[发明专利]一种芯片设计错误的定位方法和装置在审

专利信息
申请号: 201711488572.9 申请日: 2017-12-30
公开(公告)号: CN107895099A 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 赵茂聪;何志川;李磊;蒋华;周杰 申请(专利权)人: 盛科网络(苏州)有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235 代理人: 杨林洁
地址: 215021 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 设计 错误 定位 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种芯片验证方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取所述芯片对应的仿真模块,所述仿真模块能够实现芯片的功能、且设置有若干第二寄存器,所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第一寄存器一一对应;

向所述芯片写入输入数据,读取所述芯片中的所有第一寄存器中的数据,控制所述芯片运行并获取运行结果;

在确定所述运行结果不符合预设条件时,向仿真模块输入所述输入数据,且在仿真模块执行过程,通过芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写入所对应的第二寄存器,并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。

2.根据权利要求1所述的芯片验证方法,其特征在于,所述存储调试信息,包括:

在确定任一第二寄存器中的数据发生变化时,存储所述任一第二寄存器的变化前的数据、变化后的数据以及所述仿真模块中的造成该变化的语句。

3.根据权利要求1所述的芯片验证方法,其特征在于,所述以调试的方式运行所述仿真模块,包括:

调用Linux中的GDB命令来调试执行所述仿真模块。

4.根据权利要求1所述的芯片验证方法,其特征在于,所述控制所述芯片运行并获取运行结果,包括:

控制所述芯片执行所述一条预设的执行指令、并获取运行结果。

5.根据权利要求1所述的芯片验证方法,其特征在于,所述获取运行结果,包括:获取第一寄存器中的数据。

6.一种芯片验证装置,其特征在于,包括以下模块:

信息获取模块,用于获取所述芯片对应的仿真模块,所述仿真模块能够实现芯片的功能、且设置有若干第二寄存器,所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第一寄存器一一对应;

初始化模块,用于向所述芯片写入输入数据,读取所述芯片中的所有第一寄存器中的数据,控制所述芯片运行并获取运行结果;

执行模块,用于在确定所述运行结果不符合预设条件时,向仿真模块输入所述输入数据,且在仿真模块执行过程,通过芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写入所对应的第二寄存器,并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。

7.根据权利要求6所述的芯片验证装置,其特征在于,所述执行模块,还用于:在确定任一第二寄存器中的数据发生变化时,存储所述任一第二寄存器的变化前的数据、变化后的数据以及所述仿真模块中的造成该变化的语句。

8.根据权利要求6所述的芯片验证装置,其特征在于,所述执行模块,还用于:调用Linux中的GDB命令来调试执行所述仿真模块。

9.根据权利要求6所述的芯片验证装置,其特征在于,所述初始化模块,还用于:控制所述芯片执行所述一条预设的执行指令、并获取运行结果。

10.根据权利要求6所述的芯片验证装置,其特征在于,所述初始化模块,还用于:获取第一寄存器中的数据。

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