[发明专利]一种芯片设计错误的定位方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种芯片设计错误的定位方法 和装置。

背景技术

在实际的芯片设计过程中，验证工作占到了芯片设计的绝大多数时间 (通常占到70％以上的时间)；在验证的过程中，如果探测到芯片的输出结 果与预设结果之间不一致(例如：芯片的寄存器中的值与预设结果不一致等) 时，就可以判定芯片的设计存在着错误，之后需要对该错误进行定位，从而 便于设计人员对芯片设计进行修正；可见，在芯片验证的过程中，对芯片设 计中的错误进行定位是一个很重要的工作。并且在芯片应用阶段，由于芯片 的应用场景复杂，一旦出问题，需要定位是芯片配置问题，还是输入数据问 题，以及是否是芯片设计问题，在线定位非常复杂。

在现有技术中，为了增加芯片诊断和定位功能，需要增加额外的诊断模 块，如果想精确的定位，则需要增加很多的芯片逻辑和存储开销，但这样会 增加芯片的成本。

因此，设计出一种用于芯片设计和在线应用定位的简易、且成本低廉的 方法，就成为一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片设计错误和在线应用的定位方法和装置。

为了实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供了一种芯片验证方法， 包括以下步骤：获取所述芯片对应的仿真模块，所述仿真模块能够实现芯片的 功能、且设置有若干第二寄存器，所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第 一寄存器一一对应；向所述芯片写入输入数据，读取所述芯片中的所有第一寄 存器中的数据，控制所述芯片运行并获取运行结果；在确定所述运行结果不符 合预设条件时，向仿真模块输入所述输入数据，且在仿真模块执行过程，通过 芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写入所对应的第二寄存 器，并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。调试中仿真模块执行 过程和芯片执行流程是一样的，根据仿真模块的过程跟踪芯片。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述存储调试信息，包括：在确定任 一第二寄存器中的数据发生变化时，存储所述任一第二寄存器的变化前的数据、 变化后的数据以及所述仿真模块中的造成该变化的语句。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述以调试的方式运行所述仿真模 块，包括：调用Linux中的GDB命令来调试执行所述仿真模块。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述控制所述芯片运行并获取运行结 果，包括：控制所述芯片执行所述一条预设的执行指令、并获取运行结果。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述获取运行结果，包括：获取第一 寄存器中的数据。

本发明一实施方式提供了一种芯片验证装置，包括以下模块：信息获取模块， 用于获取所述芯片对应的仿真模块，所述仿真模块能够实现芯片的功能、且设 置有若干第二寄存器，所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第一寄存器一 一对应；初始化模块，用于向所述芯片写入输入数据，读取所述芯片中的所有 第一寄存器中的数据，控制所述芯片运行并获取运行结果；执行模块，用于在 确定所述运行结果不符合预设条件时，向仿真模块输入所述输入数据，且在仿 真模块执行过程，通过芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写 入所对应的第二寄存器，并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述执行模块，还用于：在确定任一 第二寄存器中的数据发生变化时，存储所述任一第二寄存器的变化前的数据、 变化后的数据以及所述仿真模块中的造成该变化的语句。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述执行模块，还用于：调用Linux 中的GDB命令来调试执行所述仿真模块。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述初始化模块，还用于：控制所述 芯片执行所述一条预设的执行指令、并获取运行结果。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述初始化模块，还用于：获取第一 寄存器中的数据。