[发明专利]光纤性能分析方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种光纤性能分析方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待分析光纤割接后的若干纤芯的测试数据；

设置分析参数，所述分析参数用于表征所述光纤割接后的若干所述纤芯的质量；

依据所述测试数据与所述分析参数，将若干所述纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器，所述自动分析器分析出对应组的若干所述纤芯中的事件点与事件位置，结合所述光纤的理论长度，计算出若干所述纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干所述纤芯的质量数据；

排除所述质量数据中重复的数据，以获得所述光纤性能的分析结果。

2.根据权利要求1所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述光纤性能分析方法在所述获取待分析光纤的若干纤芯的测试数据之前还包括：

获取所述待分析光纤在割接前的若干所述纤芯的原始质量数据；

所述排除所述质量数据中重复的数据，以获得所述光纤性能的分析结果进一步包括：比较若干所述纤芯在割接前的原始质量数据与割接后的质量数据；自动输出若干所述纤芯在所述割接前与所述割接后的对比报告。

3.根据权利要求1所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述依据所述测试数据与所述分析参数，将若干所述纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器，所述自动分析器分析出对应组的若干所述纤芯中的事件点与事件位置，结合所述光纤的理论长度，计算出若干所述纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干所述纤芯的质量数据包括：

将若干所述纤芯的测试数据分为若干组；

各自动分析器读取对应组的测试数据；

判断各组测试数据是否需要修复；

若需要修复，则修复所述测试数据后再分别分析修复后的测试数据；

分析出若干所述纤芯中的事件点与事件位置，以获得若干所述纤芯的质量数据。

4.根据权利要求1所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述分析结果包括如下项中的至少一项：优质纤芯、中断纤芯、一般纤芯和高衰耗纤芯。

5.根据权利要求1所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述图形化显示所述分析结果数据包括：图形化显示若干所述纤芯中各自相应的衰耗点位置、衰耗点大小、光纤长度、平均衰耗。

6.根据权利要求1所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述依据所述测试数据与所述分析参数，将若干所述纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器，所述自动分析器分析出对应组的若干所述纤芯中的事件点与事件位置，结合所述光纤的理论长度，计算出若干所述纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干所述纤芯的质量数据包括：

依据所述测试数据与所述分析参数，将若干所述纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器；

所述自动分析器将若干所述纤芯的测试数据分别解析到距离与光功率值的平面坐标系中；

在所述平面坐标系中构建相对应的光纤质量曲线，依据所述光纤质量曲线获取所述光纤质量曲线的事件点与事件位置，其中，所述事件包括起始反射、衰耗、反射、结尾反射中的至少一项；

结合所述光纤的理论长度，计算出若干所述纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干所述纤芯的质量数据。

7.根据权利要求6所述的光纤性能分析方法，其特征在于，所述总衰耗是指有效范围内的光纤衰耗，其中，所述有效范围指以所述光纤质量曲线的起始反射事件的结尾位置为起点至所述结尾反射事件的起始位置为终点的范围，获取所述起始反射事件的结尾位置的第一光功率值与所述结尾反射事件的起始位置的第二光功率值之间的差值，作为所述有效范围内的总衰耗值；

所述平均衰耗为所述有效范围内的所述总衰耗值除以有效距离，其中所述有效距离是指以所述光纤质量曲线的起始反射事件的结尾位置为起点至所述结尾反射事件的起始位置为终点的距离。