[实用新型]清洁装置有效
申请号: | 201720038126.7 | 申请日: | 2017-01-11 |
公开(公告)号: | CN206632011U | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 邢滨;柏耸 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;B08B15/04 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李时云 |
地址: | 300385 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洁 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,特别是涉及一种清洁装置。
背景技术
在光刻工艺中的浸液曝光(liquid immersion exposure)过程后,会有水滴形成在光刻胶上。这些水滴需要被去除,例如采用干燥过程来去除水滴。
但是,在采用干燥过程去除水滴时,水滴中的光刻胶或者是其他残留物有可能会沉淀下来,从而形成水斑缺陷(water mark defect)。
水斑缺陷会干扰原有光刻胶图形,不利于继续生产加工。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种清洁装置,有效清除水滴等残留物,并避免对待处理产品表面产生影响。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种清洁装置,用于清洗一表面,包括一本体,所述本体具有一工作区域,连接在所述本体上的第一工作部分和第二工作部分;所述第一工作部分向所述工作区域注入液体,所述第二工作部分从所述工作区域抽取液体。
可选的,对于所述的清洁装置,还包括连接在所述本体上的第三工作部分,所述第三工作部分对所述工作区域进行密封。
可选的,对于所述的清洁装置,所述第一工作部分设置在所述本体中央区域,所述第二工作部分包围所述第一工作部分,所述第三工作部分包围在所述第二工作部分的四周。
可选的,对于所述的清洁装置,所述本体呈圆柱形,上表面具有一突起以形成有一高面和一低面,所述第一工作部分设置在所述高面上,所述第二工作部分和第三工作部分设置在所述低面上。
可选的,对于所述的清洁装置,所述本体中具有多个输液通道,一部分所述输液通道的一端与第一工作部分相连接,另一部分所述输液通道的一端与第二工作部分相连接,所有所述输液通道的另一端连接所述工作区域。
可选的,对于所述的清洁装置,所述输液通道横截面为圆形,所述圆形的直径为10mm-30mm。
可选的,对于所述的清洁装置,所述第一工作部分包括注水泵和注水管,所述注水管连接一部分所述输液通道的一端和所述注水泵。
可选的,对于所述的清洁装置,所述第二工作部分包括抽水泵和抽水管,所述抽水管连接另一部分所述输液通道的一端和所述抽水泵。
可选的,对于所述的清洁装置,所述抽水管的数量为多个,排列成圆周状围绕所述第一工作部分。
可选的,对于所述的清洁装置,所述第三工作部分包括气泵和气管,所述气管连接所述气泵和所述本体。
可选的,对于所述的清洁装置,所述本体中具有输气通道,所述输气通道贯穿所述本体,所述输气通道的进气端与所述气管相连接,所述输气通道的出气端与所述工作区域间隔设置。
可选的,对于所述的清洁装置,所述输气通道的出气端呈环形。
可选的,对于所述的清洁装置,所述输气通道的出气端比进气端窄。
可选的,对于所述的清洁装置,所述工作区域为一凹陷,所述凹陷的开口面向所述表面。
可选的,对于所述的清洁装置,所述凹陷深度为8mm-20mm。
本实用新型提供的清洁装置,用于清洗一表面,包括一本体,所述本体具有一工作区域,连接在所述本体上的第一工作部分和第二工作部分;所述第一工作部分向所述工作区域注入液体,所述第二工作部分从所述工作区域抽取液体。那么,通过第一工作部分和第二工作部分,可以对待处理产品表面的液体进行融合和抽取,从而有效去除待处理产品上的液体等残留物,并且基本上避免对待处理产品表面的损坏。
借助于第三工作部分,对所述工作区域进行密封,能够进一步的提升液体等残留物去除效果,基本上达到完全去除。
附图说明
图1为晶圆上残留水滴的示意图;
图2为利用喷嘴在晶圆上喷洒去离子水的示意图;
图3为通过旋转去除晶圆上水分的示意图;
图4为本实用新型一实施例中的清洁装置的结构示意图;
图5为本实用新型一实施例中利用所述清洁装置去除液体的示意图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本实用新型的清洁装置进行更详细的描述,其中表示了本实用新型的优选实施例,应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本实用新型,而仍然实现本实用新型的有利效果。因此,下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道,而并不作为对本实用新型的限制。
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