[实用新型]逆反射标志测量仪有效
申请号: | 201720054432.X | 申请日: | 2017-01-17 |
公开(公告)号: | CN206470178U | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | 杨宗文 | 申请(专利权)人: | 北京中交工程仪器研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/01 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司11508 | 代理人: | 郑兴旺 |
地址: | 102600 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 逆反 标志 测量仪 | ||
1.一种逆反射标志测量仪,包括壳体(1)、安装在壳体(1)前端的前端面板(5)、设置在壳体(1)内的光路系统(2)、电路系统(3)和电源以及安装在壳体(1)上的显示屏(6)和仪器开关(7),所述前端面板(5)设有透光孔(51),所述电路系统(3)设有与所述透光孔(51)同心的聚光筒(21),所述光路系统(2)内设有光源,其特征在于:所述逆反射标志测量仪还包括有若干不同斜度的楔形块(9),所述楔形块(9)可拆卸固定在所述前端面板(5)上,所述楔形块(9)上开设有与所述透光孔(51)同心设置的通光孔(91)。
2.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:每一不同斜度的楔形块(9)都设置有与其斜度对应的定位装置,所述壳体(1)内设置有用于识别定位装置的斜度识别装置。
3.根据权利要求2所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述电路系统(3)包括
处理模块,耦接斜度识别装置并接收所述斜度识别装置所输出的信号;
存储模块,耦接处理模块,预录入有检测信息,并依据不同的斜度分为若干子模块;
所述处理模块依据斜度识别装置所输出的信息,调用对应的子模块并在所述显示屏(6)中显示。
4.根据权利要求2所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述定位装置为第一组磁性装置,所述斜度识别装置若干磁性探测装置。
5.根据权利要求4所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述磁性探测装置内嵌在所述前端面板(5)内,所述第一组磁性装置内嵌在所述楔形块(9)内。
6.根据权利要求5所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述第一组磁性装置为永久性磁铁,所述磁性探测装置为干簧管(53)。
7.根据权利要求4所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述前端面板(5)内还设有第二组磁性装置。
8.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述电源为移动电源(4)。
9.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述光源为卤钨灯。
10.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪,其特征在于:所述聚光筒(21)伸入所述透光孔(51)并与所述透光孔(51)直径相同。
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