[实用新型]一种引线框架检视装置有效
申请号: | 201720196145.2 | 申请日: | 2017-03-01 |
公开(公告)号: | CN206505894U | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 柴力;林维 | 申请(专利权)人: | 东莞市中之电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/677 |
代理公司: | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙)44400 | 代理人: | 何新华 |
地址: | 523430 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 引线 框架 检视 装置 | ||
1.一种引线框架检视装置,其特征在于,包括机架(10),所述机架(10)两侧各设有一支撑架(11),所述支撑架(11)的一端设有框架收卷机构(20),所述支撑架(11)的另一端设有纸张收卷机构(30),所述机架(10)上还设有框架检查机构(40),所述框架检查机构(40)位于所述两支撑架(11)之间;所述框架收卷机构(20)包括框架卷盘(21)、第一电机(22),所述框架卷盘(21)连接所述第一电机(22)的输出端;所述纸张收卷机构(30)包括纸张卷盘(31)、第二电机(32),所述纸张卷盘(31)连接所述第二电机(32)的输出端;所述框架检查机构(40)包括检查底板(41),所述检查底板(41)上设有压紧块(42),所述压紧块(42)连接有第一气缸(421)。
2.根据权利要求1所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述框架检查机构(40)还包括宽度调节机构(43),所述宽度调节机构(43)包括调节底板(431),所述调节底板(431)上设有调节限位板(432),所述调节限位板(432)上设有长型孔槽(433),调节螺丝(434)穿过所述长型孔槽(433)连接调节底板(431)。
3.根据权利要求1所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述框架检查机构(40)还包括导轨(44),所述导轨(44)位于所述检查底板(41)的一侧,所述导轨(44)上设有滑块(45),所述滑块(45)上设有定位孔夹手(451),所述定位孔夹手(451)连接第二气缸(452)。
4.根据权利要求3所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述滑块(45)连接皮带(462),所述皮带(462)两端分别绕过主动轮(461)、从动轮(463),所述主动轮(461)连接步进电机(46)的输出端。
5.根据权利要求4所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述皮带(462)上方设有行程传感器(47)。
6.根据权利要求1所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述框架卷盘(21)上设有框架导向杆(23),所述框架导向杆(23)上设有框架导向轴(24)。
7.根据权利要求6所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述框架导向轴(24)设有两个,所述框架导向轴(24)分别位于所述框架导向杆(23)的两端。
8.根据权利要求6所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述框架导向杆(23)一端通过连接杆(25)连接所述框架卷盘(21)。
9.根据权利要求1所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述纸张卷盘(31)上设有纸张导向杆(33),所述纸张导向杆(33)的一端连接所述纸张卷盘(31),所述纸张导向杆(33)的另一端连接有纸张导向轴(34)。
10.根据权利要求1所述的一种引线框架检视装置,其特征在于,所述机架(10)上还设有两条框架导轨(12),所述两条框架导轨(12)分别位于所述框架检查机构(40)的两端。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造