[实用新型]芯片磁场测试设备有效

专利信息
申请号: 201720217049.1 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN206696347U 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 曹波;张春成 申请(专利权)人: 上海锕特科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/28
代理公司: 深圳中一专利商标事务所44237 代理人: 王宇聪
地址: 201900 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 芯片 磁场 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种芯片磁场测试设备,其特征在于:包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座,所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置;所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。

2.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述测试数据反馈装置包括用于将所述测试信号转换为电信号的解码板,所述解码板设于所述隔磁箱体内并与所述控制柜通讯连接。

3.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述芯片磁场测试设备还包括设于所述隔磁箱体内的磁场检测器,所述磁场检测器与所述控制柜通讯连接以用于检测所述隔磁箱体内的所述磁场的强度值。

4.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述芯片磁场测试设备还包括信息采集装置,所述信息采集装置包括用于对所述芯片的信息进行扫描存储的条码器和安装支架,所述安装支架设于所述隔磁箱体外部的侧方,所述条码器安装于所述安装支架上并与所述控制柜通讯连接。

5.根据权利要求4所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述产品固定座的侧部与所述隔磁箱体的内侧之间设有供所述产品固定座滑动的直线滑轨,所述隔磁箱体的侧壁开设有一使所述产品固定座滑出所述隔磁箱体以便放取所述芯片的窗口,所述产品固定座的外端设有与所述窗口形状适配以封闭所述窗口的操作门,所述条码器位于所述窗口的上方。

6.根据权利要求5所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述直线滑轨包括导轨和与所述导轨滑动配合的滑块,所述导轨安装于所述产品固定座的侧部,所述导轨固定于所述隔磁箱体的内侧。

7.根据权利要求5所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述操作门上设有便于握持的推拉把手。

8.根据权利要求1~7任一项所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述芯片磁场测试设备还包括操作显示屏,所述操作显示屏安装于所述隔磁箱体外并与所述控制柜通讯连接。

9.根据权利要求8所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述隔磁箱体固定于所述控制柜的上方,所述操作显示屏固定于所述隔磁箱体的上方。

10.根据权利要求1~7任一项所述的芯片磁场测试设备,其特征在于:所述控制柜内设有与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接的计算机或者PLC控制器。

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