[实用新型]芯片磁场测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及自动化设备技术领域，尤其涉及芯片磁场测试设备。

背景技术

电子产品越来越超薄化，其内部元器件和芯片的密集度越来越高，而芯片的好坏直接会影响电子产品的正常应用。而芯片在完成生产之前需要进行检测工序对其进行检测，一般采用指南针测试方法对芯片进行测试。现有的指南针测试技术，只能针对芯片常用的功能测试，而不能对芯片在磁场环境下进行检测，从而无法判断生产出的芯片是否适应在磁场中使用或者在磁场中使用时会出现何种不良反应，对于芯片技术高度发展的今天，显然有些落后和不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片磁场测试设备，旨在解决现有技术无法实现对芯片在磁场环境下进行检测的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种芯片磁场测试设备，包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。

优选地，所述测试数据反馈装置包括用于将所述测试信号转换为电信号的解码板，所述解码板设于所述隔磁箱体内并与所述控制柜通讯连接。

优选地，所述芯片磁场测试设备还包括设于所述隔磁箱体内的磁场检测器，所述磁场检测器与所述控制柜通讯连接以用于检测所述隔磁箱体内的所述磁场的强度值。

优选地，所述芯片磁场测试设备还包括信息采集装置，所述信息采集装置包括用于对所述芯片的信息进行扫描存储的条码器和安装支架，所述安装支架设于所述隔磁箱体外部的侧方，所述条码器安装于所述安装支架上并与所述控制柜通讯连接。

优选地，所述产品固定座的侧部与所述隔磁箱体的内侧之间设有供所述产品固定座滑动的直线滑轨，所述隔磁箱体的侧壁开设有一使所述产品固定座滑出所述隔磁箱体以便放取所述芯片的窗口，所述产品固定座的外端设有与所述窗口形状适配以封闭所述窗口的操作门，所述条码器位于所述窗口的上方。

优选地，所述直线滑轨包括导轨和与所述导轨滑动配合的滑块，所述导轨安装于所述产品固定座的侧部，所述导轨固定于所述隔磁箱体的内侧。

优选地，所述操作门上设有便于握持的推拉把手。

优选地，所述芯片磁场测试设备还包括操作显示屏，所述操作显示屏安装于所述隔磁箱体外并与所述控制柜通讯连接。

优选地，所述隔磁箱体固定于所述控制柜的上方，所述操作显示屏固定于所述隔磁箱体的上方。

优选地，所述控制柜内设有与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接的计算机或者PLC控制器。

本实用新型的有益效果：本实用新型的芯片磁场测试设备，工作时，将待测的芯片放置于产品固定座上并使得该芯片处于隔磁箱体内，然后控制柜控制与其通讯连接的磁场发生器工作，磁场发生器在隔磁箱体内产生磁场，从而使芯片处于一个磁场环境下，芯片在磁场环境下产生测试信号，而测试数据反馈装置则接收该测试信号并传输到与其通讯连接的控制柜上，控制柜根据该测试信号形成测试数据，从而得到该芯片在该磁场环境下是否出现不良反应等情况，并自动判断被测试的该芯片是否符合要求，进而判断出该芯片是否为合格的产品。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的结构示意图。

图2为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的另一结构示意图。

图3为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的产品固定座拉出隔磁箱体外时的结构示意图。

图4为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的产品固定座拉出隔磁箱体外时的另一结构示意图。

图5为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的结构分解示意图。

图6为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的另一结构分解示意图。

附图标记包括：

10—隔磁箱体 11—窗口 20—产品固定座

21—操作门 22—推拉把手 30—磁场发生器

40—测试数据反馈装置 50—控制柜 60—磁场检测器

70—信息采集装置 71—条码器 72—安装支架

80—直线滑轨 81—导轨 82—滑块

90—操作显示屏 100—芯片。

具体实施方式