[实用新型]阵列基板测试设备有效
申请号: | 201720333219.2 | 申请日: | 2017-03-31 |
公开(公告)号: | CN206676837U | 公开(公告)日: | 2017-11-28 |
发明(设计)人: | 费磊 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | B08B5/02 | 分类号: | B08B5/02;G01R31/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 测试 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及阵列基板测试技术领域,特别涉及一种阵列基板测试设备。
背景技术
目前,一种通过调制器Modulator装置贴近待测阵列基板来模拟显示设备,进而确定阵列基板是否存在显示缺陷的测试设备,如今应用广泛。
现有技术中,由于Modulator装置制造成本较高,前述测试设备内Modulator装置的尺寸一般较小,Modulator装置需要在待测阵列基板上不断平移和贴近,以确定待测基板内各区域是否均正常。然而,由于待测阵列基板仍未正式应用,阵列基板上可能存在较大杂质颗粒。在Modulator装置在阵列基板上平移和贴近的过程中,Modulator装置与待测阵列基板的距离甚至会达到30~50um,这些杂质颗粒可能会对Modulator装置造成损伤,造成Modulator装置无法正常使用,从而给用户造成财产损失。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种阵列基板测试设备,能够全面有效地对阵列基板放置区进行清洁,降低测试过程中对调制器的损伤风险。
本实用新型实施例采用下述技术方案:
一种阵列基板测试设备,包括支架和用于放置基板的基板放置区,其特征在于,所述阵列基板测试设备还包括吹气装置,所述吹气装置位于所述基板放置区上方,所述吹气装置包括出气方向倾斜朝向所述基板放置区的风刀管以及连接所述风刀管的运动杆,所述运动杆与所述支架滑动连接,以带动所述风刀管在所述基板放置区域上方移动。
优选地,所述风刀管排出的气体吹扫到的区域的长度大于或等于所述基板放置区的长度。
优选地,所述风刀管的出气方向与基板放置区的夹角成45°。
优选地,所述吹气装置还包括连接所述风刀管的转动装置,所述转动装置用于带动所述风刀管相对于所述运动杆转动,以调整所述风刀管相对于所述基板放置区的出气方向。
优选地,所述转动装置安装至所述运动杆。
优选地,所述转动装置为旋转电机。
优选地,所述风刀管的数量设置为两个,正方向固定时,其中一个风刀管的出气方向与所述基板放置区倾斜角为锐角,另一个风刀管的出气方向与所述基板放置区倾斜角为钝角。
优选地,两个风刀管与所述基板放置区倾斜角互补。
优选地,所述吹气装置还包括控制两个风刀管开关的阀门装置。
优选地,所述阵列基板测试设备还包括Modulator装置,所述支架用于支撑Modulator装置。
本实用新型实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果:
本实用新型阵列基板测试设备工作过程中,在检测基板之前,运动杆带动吹气装置从基板放置区的一侧移动到其相对的另一侧,在此过程中风刀管排出气体,由于所述风刀管的出气方向固定,并且倾斜朝向所述基板放置区,通过风刀管排出的气体可以对基板进行清洁工作,可有效地对去除基板上的杂质颗粒,降低检测基板时对调制器的损伤风险。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为实施例1中阵列基板测试设备的平面结构示意图;
图2为实施例1中阵列基板测试设备沿A-A’方向剖面示意图;
图3为实施例2中阵列基板测试设备的平面结构示意图;
图4为实施例2中阵列基板测试设备沿A-A’方向剖面示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明具体实施例及相应的附图对本发明技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
以下结合附图,详细说明本申请各实施例提供的技术方案。
实施例1
如图1所示,本实用新型的实施例中,所提供的阵列基板测试设备包括用于放置基板的基板放置区1、位于基板放置区1两侧的支架2以及位于基板放置区1上方的吹气装置3。阵列基板测试设备还可以包括Modulator装置,支架2用于支撑Modulator装置。
上述吹气装置3包括运动杆31、风刀管32以及运动杆31与风刀管32之间的转动装置33。
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