[实用新型]一种测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电器件技术领域，特别是涉及一种测试装置。

背景技术

平板探测器是数字平板X射线成像系统(Digital Radiography，DR)的核心部件，它实现将X射线能量转换为电信号。目前，采用的平板探测器主要有两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。

对于非晶硅平板探测器，其包含的非晶硅薄膜晶体管结构在没有X线照射的情况下，仍会积累暗电流因而会造成图像伪影。因此，这种平板探测器在应用时，平板探测器需随时和高压发生器沟通曝射的顺序，以保证在X线产生之前暗电流被清除干净。基于这种工作机制，使平板探测器需要通过通讯线与高压发生器保持通信，以在曝光时进行时序沟通，因此这使得一块平板探测器只能在与之连接的高压发生器上使用，无法自由移动，无法灵活应用于其它高压发生器。

自动曝光检测(Automatic Exposure Detection，AED)技术的出现，解决了上述平板探测器必须要和高压发生器连接的问题，在平板探测器中设置AED模块，通过检测高压发生器曝光，而实现与高压发生器的同步功能。AED技术摆脱了平板探测器必须要和高压发生器连接的模式，实现了平板探测器和高压发生器无线同步，大大提高了平板探测器的便捷性。

自动曝光检测模块(以下简称AED模块)主要由光电二极管、高速高精度运算放大器组成，在生产时需要测试AED模块在其计量范围内是否能正常感应。

现有技术中，对AED模块进行测试的方法是将平板探测器装机后，通过X射线曝光来进行测试，在测试时使用剂量计校准X线剂量。然而这种测试方法需要将平板探测器装机，测试流程繁琐，不能满足高效率的测试要求。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，与现有技术相比可简化测试流程，提高测试效率。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，所述光源板、所述支承柱以及所述探针设置在所述腔体内；

所述光源板包括分布在所述光源板一侧表面的多个发光体，以及与所述发光体连接的、用于控制所述发光体产生预设强度光的控制部；

所述支承柱设置在所述光源板发射光一侧，由多个所述支承柱形成与光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；

所述探针用于触发所述待测试器件，并在触发时探测到所述待测试器件产生感应电流时发出指示信号。

可选地，还包括设置在所述光源板发射光一侧的、用于将所述光源板产生的光调整光强度均匀的匀光板。

可选地，所述匀光板包括亚克力板和设置在所述亚克力板表面的匀光膜。

可选地，所述控制部包括：

与所述发光体连接的、用于向所述发光体输出电流的控制电路；

与所述控制电路连接的、用于根据指令向所述控制电路输出电压的处理器。

可选地，所述控制电路包括第一运算放大器、第二运算放大器、第一场效应管、第二场效应管、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；

所述第一运算放大器的同相输入端作为所述控制电路的输入端，输出端与所述第一场效应管栅极连接，反相输入端与所述第一场效应管源极连接；

所述第一场效应管漏极与供电端连接，源极接地，在所述第一场效应管源极与接地端之间连接有第一电阻，在所述第一场效应管漏极与供电端之间连接有第二电阻；

所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一场效应管漏极连接，反相输入端与供电端连接，输出端与所述第二场效应管栅极连接；

在供电端与所述第二运算放大器的反相输入端之间依次连接有第三电阻和第四电阻；

所述第二场效应管源极与所述第三电阻和所述第四电阻之间线路连接，漏极与所述发光体连接。

可选地，还包括：

用于放置在所述支承柱形成的支承平面上，感应所述光源板产生光的光强度，并转换为电压信号反馈给所述控制部的光强度校准板。

可选地，所述光强度校准板包含的光强度检测电路包括光电二极管、第三运算放大器和第一电容；

所述第三运算放大器的同相输入端接地，反相输入端与所述光电二极管负极连接，输出端作为所述光强度检测电路的输出端，所述第一电容的一端与所述第三运算放大器的反相输入端连接，另一端与所述第三运算放大器的输出端连接；