[实用新型]测量装置及基板玻璃垂度测量设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，具体地，涉及一种测量装置及基板玻璃垂度测量设备。

背景技术

基板玻璃是液晶显示面板的重要组成部分，为保证基板玻璃的制造品质，需要对基板玻璃的垂度进行测量，垂度具体是指基板玻璃被支架支撑起来时，基板玻璃下垂的程度。

目前，基板玻璃的垂度通常通过刻度尺进行测量，但是目前市售刻度尺的精度最大为0.5mm。因此通过刻度尺测量的所述“垂度”的误差等级较高，为0.5mm级别。但0.5mm级别的“垂度”指标测量精度远不能满足基板玻璃制造工艺需求，从而会影响玻璃基板的制造品质，为此需提高“垂度”指标测量精度。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测量装置及基板玻璃垂度测量设备，用于解决现有技术中基板玻璃的垂度测量精度不能满足基板玻璃制造工艺需求的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种测量装置，所述测量装置包括显微镜及刻度尺，所述显微镜的物镜上具有多条第一刻度线，所述刻度尺具有多条第二刻度线，所述显微镜和所述刻度尺设置为所述第一刻度线能够与所述第二刻度线配合进行测量。

优选地，所述测量装置还包括支架，所述显微镜安装在所述支架上且能相对所述支架进行高度调节，所述刻度尺相对所述支架固定。

优选地，所述显微镜设置为所述物镜的轴线垂直于所述刻度尺的长度方向。

优选地，所述支架包括底座及所述底座上设置的滑杆，所述显微镜安装在所述滑杆上并能够沿所述滑杆上下滑动。

优选地，与所述滑杆连接有用于旋转以使得所述显微镜在所述滑杆上滑动并能够将所述显微镜固定在所述滑杆上的控制旋钮。

优选地，所述滑杆垂直于所述底座的底面。

优选地，所述刻度尺垂直于所述底座的底面。

根据本实用新型的另一方面，还提供一种基板玻璃垂度测量设备，包括有根据如上所述的测量装置。

优选地，所述基板玻璃垂度测量设备还包括测量平台，所述测量平台上设置有所述测量装置以及用于支撑基板玻璃的玻璃支架。

优选地，所述刻度尺的长度方向垂直于所述测量平台的上平面。

本实用新型提供的测量装置及基板玻璃垂度测量设备能够提高基板玻璃垂度的测量精度，以给液晶基板玻璃制造工艺提高准确可靠的参考，从而为液晶玻璃基板制造提高品质提供保障。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本实用新型，但并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为用根据本实用新型的一个实施方式中测量装置测量基板玻璃垂度的示意图；

图2为从显微镜的目镜中看到的测量玻璃边缘的放大视图。

附图标记说明

1-显微镜； 11-物镜；12-第一刻度线；

2-刻度尺； 21-第二刻度线；3-安装架；

31-底座；32-滑杆；33-控制旋钮；

4-基板玻璃； 5-玻璃支架； 6-测量平台。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限制本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为设备或装置在实际应用情况下的方位或位置关系，或是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制。

本实用新型提供一种测量装置，如图1和图2所示，该测量装置包括显微镜1及刻度尺2，显微镜1的物镜11上具有多条第一刻度线12，刻度尺2上具有多个第二刻度线21，显微镜1和刻度尺2设置为所述第一刻度线12能够与所述第二刻度线21配合进行测量。