[实用新型]一种高密度LED印制电路测试架

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED印制电路测试的技术领域，尤其是一种高密度LED印制电路测试架。

背景技术

高密度LED印制电路测试点大于8000点，安装LED灯珠面焊盘达5000个，区域尺寸长宽250*180mm，焊盘间距最大为4.5mm，小于正常支撑立柱直径5.0～8.0mm，现有技术中，采用两套测试架A模和B模方式，把密集的测试点分开，腾出放置支撑立柱的空间，产品测试分两步才能完成，同时现有技术中测试架在调试和使用时，中间区域因支撑力不足测试接触不充分容易出现开路假点的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在的上述问题，提供了一种高密度LED印制电路测试架，本实用新型装置解决了现有测试架测试步骤繁琐和容易出现开路假点的问题，高密度LED印制电路测试可一次完成，同时在下模针盘内设有第三布针板，使测试区域内向上凸起，增加支撑力，避免开路假点。

为此，本实用新型所采取的技术解决方案是：

一种高密度LED印制电路测试架，包括上模线盘、下模线盘、下模针盘、印制电路，上模线盘和下模线盘之间设有下模针盘，上模线盘和下模针盘之间设有印制电路，下模针盘由第一布针板、第二布针板、第四布针板、第五布针板、第六布针板、布针板短支柱、布针板长支柱构成，第一布针板固定在第二布针板顶部，第二布针板与第四布针板之间非测试区域设有布针板短支柱，第四布针板与第五布针板之间非测试区域设有布针板短支柱，第五布针板与第六布针板之间非测试区域设有布针板短支柱，第二布针板与第六布针板之间非测试区域设有布针板长支柱，布针板长支柱贯穿第四布针板和第五布针板，布针板长支柱两侧均设有布针板短支柱，第二布针板底部设有第三布针板，第三布针板的非测试区域设有支撑立柱固定孔，布针板短支柱的端部和布针板长支柱的端部固定在支撑立柱固定孔内，第二布针板与第六布针板之间测试区域设有布针板检测区支柱，布针板长支柱与布针板检测区支柱的长度相等。

作为进一步优选，所述第三布针板的厚度为0.24mm～0.26mm。

作为进一步优选，所述下模线盘由下模线盘穿线板、下模线盘底板、布线区域外支撑立柱构成，所述下模线盘穿线板和所述下模线盘底板之间非测试区域设有所述布线区域外支撑立柱，所述下模线盘穿线板和所述下模线盘底板之间测试区域设有布线区域内支撑立柱。

作为进一步优选，所述布线区域内支撑立柱的端部为锥台，所述锥台顶面直径为2.4mm～2.6mm。

上述技术方案的有益效果在于：

本实用新型装置将布线区域内支撑立柱端部为锥台，减小了接触面，避免了支撑立柱与测试线脚接触，从而使其不会被压断，因此不需要将密集的测试点分开测试，腾出了足够的放置支撑立柱的空间，可让测试一步完成，降低测试过程漏检风险；本实用新型装置在第二布针板底部设有厚度为0.24mm～0.26mm的第三布针板，布针板长支柱与布针板检测区支柱的长度相等，同时布针板短支柱的端部和布针板长支柱的端部固定在支撑立柱固定孔内，布针板长支柱与布针板检测区支柱有0.24mm～0.26mm厚度差，使测试区域向上凸起，增加了支撑力同时避免了塌陷，使测试区域接触充分，避免开路假点。

附图说明

图1为本实用新型的高密度LED印制电路测试架的结构示意图。

图2为本实用新型的下模线盘的结构示意图。

图3为本实用新型的下模针盘的结构示意图。

图中：1、上模线盘；2、下模线盘；3、下模针盘；4、印制电路；201、下模线盘穿线板；202、下模线盘底板；203、布线区域外支撑立柱；204、布线区域内支撑立柱；301、第一布针板；302、第二布针板；303、第三布针板；303A、支撑立柱固定孔；304、第四布针板；305、第五布针板；306、第六布针板；307、布针板短支柱；308、布针板长支柱；309、布针板检测区支柱。

具体实施方式

为使本实用新型的特点和优点更加清楚，下面结合具体实施例进行描述。