[实用新型]一种可涨缩调节的电路板测试治具

权利要求书

1.一种可涨缩调节的电路板测试治具，包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3)，所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(21)，且导电线(21)的一端与测试连接口(3)内测试连接针(31)导通连接；其特征在于：所述针盘(1)由两个以上子针盘(11)构成，且至少一个子针盘(11)可活动调节位置地安装在线盘(2)的上表面，每个子针盘(11)的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针(12)；测试时，受压下移的所述多根测试探针(12)下端与多条导电线(21)的另一端一一对应导通连接。

2.根据权利要求1所述可涨缩调节的电路板测试治具，其特征在于：所述可活动调节的子针盘(11)底面设有定位销(13)，所述线盘(2)的上表面对应每个定位销(13)的位置设有两个以上定位销孔(22)；组装时，每个定位销(13)插入在其中一个对应的定位销孔(22)内。

3.根据权利要求2所述可涨缩调节的电路板测试治具，其特征在于：所述可活动调节的子针盘(11)的调节移动范围小于测试探针(12)与导电线(21)接触端的直径之和。

4.根据权利要求1或2或3所述可涨缩调节的电路板测试治具，其特征在于：所述每条导电线(21)的另一端穿设在线盘(2)上、并设有连接触点(23)，所述连接触点(23)是弹簧套或漆包线。