[实用新型]一种可涨缩调节的电路板测试治具

说明书

【技术领域】

本实用新型属于电路板测试治具技术领域，尤其涉及一种可涨缩调节的电路板测试治具。

【背景技术】

目前，市面上现有电路板测试治具包括针盘、线盘和测试接口，针盘的上表面穿插有间隔设置的多根测试探针，而且这些测试治具的针盘都是安装在线盘上，牢牢固定死。但是在电路板测试中，申请人发现由于生产加工精度和基材涨缩的问题导致生产出来的电路板测试点或多或出现位置偏移的问题，从而使测试点与针盘上的测试探针无法连接、完成测试，尤其软硬板结合的电路板，两种材料的涨缩比例完全不同，使用现有的测试治具更加难以完成测试，已成为本电路板测试行业的一道难题。

【实用新型内容】

为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一种可根据待测电路板的规格调节可活动调节子针盘在线盘上的安装位置，实现针盘涨缩控制，以确保待测电路板的每个测试点均能与测试探针连接、顺利完成测试，测试功能稳定、可靠，准确度高，使用灵活，操作简单、方便，通用性极强的电路板测试治具。

本实用新型解决现有技术问题所采用的技术方案为：

一种可涨缩调节的电路板测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，且导电线的一端与测试连接口内测试连接针导通连接；所述针盘由两个以上子针盘构成，且至少一个子针盘可活动调节位置地安装在线盘的上表面，每个子针盘的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针；测试时，受压下移的所述多根测试探针下端与多条导电线的另一端一一对应导通连接。

进一步地，所述可活动调节的子针盘底面设有定位销，所述线盘的上表面对应每个定位销的位置设有两个以上定位销孔；组装时，每个定位销插入在其中一个对应的定位销孔内。

进一步地，所述可活动调节的子针盘的调节移动范围小于测试探针与导电线接触端的直径之和。

进一步地，每条导电线的另一端穿设在线盘上、并设有连接触点，所述连接触点是弹簧套或漆包线。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型通过上述技术方案，用户即可根据待测电路板的规格调节可活动调节子针盘在线盘上的安装位置，实现针盘涨缩控制，以确保待测电路板的每个测试点均能与测试探针连接、顺利完成测试，测试功能稳定、可靠，准确度高，而且使用灵活，操作简单、方便，通用性极强，结构也十分巧妙，加工制作容易，有利于普及应用。

【附图说明】

图1是本实用新型所述可涨缩调节的电路板测试治具实施例的结构示意图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1中所示：

本实用新型实施例提供了一种可涨缩调节的电路板测试治具，包括有针盘1、线盘2、测试连接口3，所述线盘2上穿设间隔设置的多条导电线21，且每条导电线21的一端与测试连接口3内测试连接针31导通连接，另一端穿设在线盘2上、并设有连接触点23，所述连接触点23可以是弹簧套或漆包线。所述针盘1由两个以上子针盘11构成，且至少一个子针盘11可活动调节位置地安装在线盘2的上表面，具体结构可以为：所述可活动调节的子针盘11底面设有定位销13，所述线盘2的上表面对应每个定位销13的位置设有两个以上定位销孔22；组装时，每个定位销13插入在其中一个对应的定位销孔22内。每个子针盘11的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针12；测试时，受压下移的所述多根测试探针12下端与多条导电线21的另一端一一对应导通连接。而且，所述可活动调节的子针盘11的调节移动范围小于测试探针12与导电线21接触端的直径之和，即两个以上定位销孔22构成的调节范围小于测试探针12与弹簧套或漆包线的直径之和。

这样，本实用新型所述电路板测试治具使用时，用户即可根据待测电路板的规格(电路板大小和测试点位置)调节可活动调节子针盘11在线盘2上的安装位置(即将定位销13插入在对应的定位销孔22内)，实现针盘1涨缩控制，以确保待测电路板的每个测试点均能与测试探针12连接、顺利完成测试，测试功能稳定、可靠，准确度高，而且使用灵活，操作简单、方便，通用性极强，结构也十分巧妙，加工制作容易，有利于普及应用。

以上内容是结合具体的优选技术方案对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。