[实用新型]一种太赫兹探测器的均匀性测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及太赫兹探测器均匀性测试装置技术领域，尤其涉及一种太赫兹探测器的均匀性测试装置。

背景技术

太赫兹探测器的均匀性是指在短时间内，相同功率的太赫兹光照射在太赫兹探测器不同位置时，太赫兹探测器所测量的功率值的均匀程度。在现有的测量手段下，往往假设光源为稳定光源，但其实稳定性极好的光源是很难得到的，尤其是在太赫兹波段。假设均匀性指标要求小于1％，这就要求太赫兹光源的不稳定性要远远小于1％才能满足均匀性测量要求，尤其是针对热电堆型太赫兹探测器，这类探测器的响应时间往往都很长，从太赫兹光入射到探测器表面到探测器得到稳定输出大约需要一分钟的时间，想在如此长时间内得到准确的均匀性测试数据，对光源的稳定性要求太高。除此之外，传统实现探测器在二维平面的移动往往利用手动的二维平移台，相对于在太赫兹波段应用比较广泛的热电型探测器，这将引起探测器本底噪声的变化。

现有的探测太赫兹探测器均匀性装置中往往没有考虑太赫兹光源稳定性的影响，仅仅假设太赫兹光源为稳定光源，这就引入了不稳定太赫兹光源对均匀性测试的影响，除此之外，在手动调节探测器位置的过程中容易引入人为噪声，尤其是针对在太赫兹波段应用比较广泛的热电型探测器，此类探测器对周围环境的温度变化比较敏感，手动操作容易引起探测器本底噪声的变化。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了解决上述问题，提供了一种太赫兹探测器的均匀性测试装置，可以有效排除不稳定太赫兹光源引起的测试误差，并全程用电脑控制，减少人为引入的探测器本底噪声变化，确保探测器均匀性测试数据的准确性。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种太赫兹探测器的均匀性测试装置，包括太赫兹光源，所述太赫兹光源输出的光先后经过光阑和太赫兹分束镜，经过太赫兹分束镜后变成两路，一路为校准路，进入标准功率计，另一路为探测路，探测路的光再经过一太赫兹反射镜进入待测探测器；待测探测器输出的信号经过处理模块进入PC终端；所述待测探测器由平移台带动变换位置，所述平移台的运动由控制系统控制。

所述光阑为孔径可调光阑。

所述处理模块包括串联的放大模块和AD变换模块。

所述放大模块包括串联的差分放大模块和程控放大模块。

所述平移台为二维平移台。

本实用新型的有益效果是：

此实用新型简单易行，通过引入太赫兹光源稳定性标定模块和自动化探测器移动控制模块，减少不稳定太赫兹光源和手动操作的影响，由此获得了更加准确可信的探测器均匀性数据。

附图说明

图1为本测试装置的结构示意图；

其中，1.光阑，2.太赫兹分束镜，3.太赫兹反射镜，4.差分放大模块，5.程控放大模块，6.AD变换模块。

具体实施方式：

下面结合附图与实施例对本实用新型做进一步说明：

如图1所示，一种太赫兹探测器的均匀性测试装置，包括太赫兹光源，所述太赫兹光源输出的光先后经过光阑1和太赫兹分束镜2，经过太赫兹分束镜2后变成两路，一路为校准路，进入标准功率计，另一路为探测路，探测路的光再经过一太赫兹反射镜3进入待测探测器；待测探测器输出的信号经过处理模块进入PC终端；所述待测探测器由平移台带动变换位置，所述平移台的运动由控制系统控制。

所述光阑1为孔径可调光阑。

所述处理模块包括串联的放大模块和AD变换模块6。

所述放大模块包括串联的差分放大模块4和程控放大模块5。

所述平移台为二维平移台。

本实用新型主要包括光学设计部分和计算控制部分。

光学设计部分主要包含太赫兹光源和由太赫兹分束镜、太赫兹反射镜等组成的太赫兹光源稳定性标定模块。

一种太赫兹探测器的均匀性测试装置的测试方法，太赫兹光源输出光先经过一个孔径可调光阑，使其获得小孔径、空间分布均匀的太赫兹光；此太赫兹光经过太赫兹分束镜后变成两路，一路用于标定太赫兹光源的稳定性，称之为校准路，另外一路用于测量太赫兹探测器的均匀性，称之为探测路。用标准探测器对校准路的太赫兹光功率进行实时检测，便可获得太赫兹光源稳定性的实时数据。探测路的太赫兹光再经过一太赫兹反射镜进入待测探测器，待测探测器经由一个二维步进电机控制便可实现探测器在二维空间的移动。