[实用新型]照度测量装置以及照度测量结构有效
| 申请号： | 201720580770.7 | 申请日： | 2017-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN206847777U | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 鲍宏 | 申请（专利权）人： | 杭州视芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司11449 | 代理人： | 蔡纯,张靖琳 |
| 地址： | 310012 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 照度 测量 装置 以及 结构 | ||
1.一种照度测量装置，其特征在于，包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。
2.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述遮光板的通孔的尺寸小于所述照度计的一端的尺寸，并且所述通孔的内壁具有弹性。
3.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述遮光板面向待测物的一面设有吸光层。
4.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，还包括吸附结构，用于将所述遮光板与待测物吸附。
5.根据权利要求4所述的照度测量装置，其特征在于，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面边缘的吸附条。
6.根据权利要求4所述的照度测量装置，其特征在于，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面的多个磁体。
7.根据权利要求6所述的照度测量装置，其特征在于，所述多个磁体位于所述遮光板面向所述待测物的一面的边缘。
8.根据权利要求6所述的照度测量装置，其特征在于，所述多个磁体在所述遮光板面向所述待测物的一面对称分布。
9.根据权利要求6所述的照度测量装置，其特征在于，所述多个磁体至少部分嵌入所述遮光板内。
10.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述照度计的一端为探头，所述通孔的形状与所述探头的形状相匹配。
11.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述遮光板面向待测物的一面平坦。
12.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述通孔位于所述遮光板的中心。
13.一种照度测量结构，其特征在于，包括：
待测物；以及
根据权利要求1至12任一项所述的照度测量装置，
所述照度测量装置的遮光板与所述待测物表面平行，所述照度测量装置的照度计测量所述待测物的发光量。
14.根据权利要求13所述的照度测量结构，其特征在于，所述遮光板与所述待测物表面接触。
15.根据权利要求13所述的照度测量结构，其特征在于，所述遮光板与所述待测物表面之间具有间隙。
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