[实用新型]照度测量装置以及照度测量结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及发光量检测领域，更具体地涉及一种照度测量装置以及照度测量结构。

背景技术

照度计是用来检测发光量的设备，图1和图2示出现有的照度计120对待测物900进行发光量检测的立体示意图和截面图，其中待测物900具有一定的发光量。检测时，照度计120的探头121与待测物900的表面之间会存在一定的间隙。在进行微弱光的光照度测试时，由于待测物发光量本身较小，如果图中箭头所示的环境光通过上述间隙进入探头121与待测物所发的光进行掺杂，将会影响到测试的准确性，因此此类测量通常是在暗室中进行，对暗室的设计和测量的操作都有很高的要求。

然而，对于已经安装好的待测物，尤其是安装在室外环境中的待测物，要在暗室中进行测量往往是很难实现的。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种照度测量装置以及照度测量结构，用于代替暗室实现对微弱光的光照度测试。

根据本实用新型的一方面，提供一种照度测量装置，包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。

优选地，所述遮光板的通孔的尺寸小于所述照度计的一端的尺寸，并且所述通孔的内壁具有弹性。

优选地，所述遮光板面向待测物的一面设有吸光层。

优选地，还包括吸附结构，用于将所述遮光板与待测物吸附。

优选地，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面边缘的吸附条。

优选地，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面的多个磁体。

优选地，所述多个磁体位于所述遮光板面向所述待测物的一面的边缘。

优选地，所述多个磁体在所述遮光板面向所述待测物的一面对称分布。

优选地，所述多个磁体至少部分嵌入所述遮光板内。

优选地，所述照度计的一端为探头，所述通孔的形状与所述探头的形状相匹配。

优选地，所述遮光板面向待测物的一面平坦。

优选地，所述通孔位于所述遮光板的中心。

根据本实用新型的另一方面，提供一种照度测量结构，包括：待测物；以及上述任一项的照度测量装置，所述照度测量装置的遮光板与所述待测物表面平行，所述测量装置的照度计测量所述待测物的发光量。

优选地，所述遮光板与所述待测物表面接触。

优选地，所述遮光板与所述待测物表面之间具有间隙。

根据本实用新型的照度测量装置以及照度测量结构，照度测量装置的遮光板设有通孔，照度计的一端安装在所述通孔中，即遮光板通过通孔套设于照度计的一端，当照度测量装置对待测物进行发光量检测时，遮光板在探头周围可以阻挡相应部分的外界干扰光，避免无遮光板时干扰光直接或通过待测物表面反射进入探头中。遮光板与待测物表面相接触时，遮光板边缘部分的外界干扰光同样难以透过遮光板进入探头，即使遮光板与待测物表面之间存在间隙，遮光板边缘部分的外界干扰光进入该间隙后经过在遮光板与待测物表面之间多次反射，也极大地减弱了进入探头的干扰光的光量。本实用新型的照度测量装置及照度测量结构可代替暗室实现光照度测试，满足对微弱光的光照度测试，提高测试的准确性，节省成本且应用方式灵活，对室外已经完成安装的待测物同样适用。

在优选的实施例中，通孔的尺寸小于照度计的一端的尺寸，并且通孔的内壁具有弹性，因而通孔的内壁与照度计接触紧密，一方面使照度测量装置遮光板与照度计之间连接更稳定，另一方面可以避免干扰光通过通孔内壁与照度计之间的间隙进入探头形成干扰。

在优选的实施例中，照度测量装置的遮光板面向待测物的一面设有吸光层。当遮光板与待测物表面之间存在间隙时，遮光板边缘部分的干扰光进入该间隙后经过在遮光板与待测物表面之间多次反射，同时吸光层对该部分干扰光进一步吸收，从而减弱甚至消除到达探头的干扰光的光量。

在优选的实施例中，所述照度测量装置还包括吸附结构，用于将遮光板与待测物吸附，一方面使得照度测量装置遮光板与待测物表面之间间隙减小甚至消除，另一方面也方便对非水平的待测物表面进行检测。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出现有技术的照度计探头对待测物检测的立体图；

图2示出现有技术的照度计探头对待测物检测的截面图；

图3示出根据本实用新型第一实施例的照度测量装置的立体图；