[实用新型]温度循环测试台

权利要求书

1.一种温度循环测试台，其特征在于，包括：

下控温模组，用于放置待测产品；

上控温模组，能上下移动，与所述下控温模组相对设置，所述上控温模组和下控温模组的远离所述待测产品的方向均依次包括导热绝缘层、导热层和半导体制冷片层；

第一温度传感器，埋设于所述上控温模组和下控温模组的导热层内，用于获取所述待测产品的温度信息；

第二温度传感器，埋设于所述上控温模组和下控温模组的导热层内，用于获取所述半导体制冷片层的温度信息；

控制电路，输入端分别连接所述第一温度传感器和第二温度传感器，输出端连接所述半导体制冷片层，用于根据所述第一温度传感器和第二温度传感器反馈的温度信息调节所述半导体制冷片层的输出。

2.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述半导体制冷片层包括横向平铺的多个半导体制冷片，多个所述第二温度传感器与多个所述半导体制冷片对应设置。

3.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述下控温模组的导热绝缘层靠近所述待测产品的一侧还设置有可压缩导热绝缘层，所述待测产品位于所述可压缩导热绝缘层上。

4.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述上控温模组包括多个堆叠的导热层，相邻导热层之间为导热绝缘层。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述导热层由两个金属导热层通过导热粘接层粘接而成。

6.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述第一温度传感器埋设于所述导热层内靠近所述待测产品的一侧，距离所述导热层靠近所述待测产品的面小于0.5mm；所述第二温度传感器埋设于所述导热层内靠近所述半导体制冷片层的一侧。

7.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述导热层和导热绝缘层之间还设置有横向匀温层。

8.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述半导体制冷片层远离所述待测产品的一侧还设置有温度平衡模块。

9.根据权利要求1所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述下控温模组和上控温模组的纵向外周从内而外依次设置有保温绝缘层和绝热工程塑料层。

10.根据权利要求5所述的一种温度循环测试台，其特征在于，所述金属导热层为铜、铝、或者含有两者任意一种的合金，厚度不超过5mm。