[实用新型]晶片电性能测试装置

权利要求书

1.晶片电性能测试装置，包括测试仪和测试笔，测试仪和测试笔之间通过信号线或无线传输连接，其特征在于，所述测试笔上设有开始按钮、通路指示灯和合格指示灯，所述开始按钮、通路指示灯和合格指示灯串联连接后连接5V电源；

所述开始按钮与所述通路指示灯之间设有门极可关断晶闸管，所述门极可关断晶闸管的门极连接一台脉冲发生器，所述门极可关断晶闸管的阳极连接开始按钮，所述门极可关断晶闸管的阴极连接通路指示灯。

2.根据权利要求1所述的晶片电性能测试装置，其特征在于，所述脉冲发生器设于所述测试笔内，所述测试笔内还设有一种中央处理器，所述中央处理器通过IO口连接脉冲发生器，所述中央处理器通过信号线连接测试仪。

3.根据权利要求1所述的晶片电性能测试装置，其特征在于，所述测试仪包括外壳、前面板和测试电路，所述前面板设于所述外壳上，所述测试电路置于所述外壳内；

所述前面板上设有若干指示灯和液晶显示屏，所述液晶显示屏通过信号线与中央处理器连接；

所述测试电路包括比较电路，所属比较电路包括比较器、降压电路和5V电源，所述降压电路包括电阻R1和电阻R2，所述电阻R1和电阻R2串联后接地，所述电阻R1接5V电源；

所述比较器的正向输入端连接在电阻R1和电阻R2之间，所述比较器的反向输入端连接晶片，所述比较器的输出端连接信号线；

所述比较器的电源端接5V电源，所述比较器的接地端接-5V电源。