[实用新型]晶片电性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及晶片制造领域，尤其涉及对晶片电性能测试装置的改进。

背景技术

目前在实际生产过程中，图示仪测试结果在图示仪上显示，操作员需确认每颗产品电性参数，以便确认批量产品的合格与不良。操作员在操作过程中，往往会因为平台等限制需测试产品与图示仪距离较大，此时容易增加测试结果确认耗时，距离更大时操作员颈部及双手频繁扭动造成疲劳度增加或需增加测试员人数，同时操作员由于距离较远，手臂展宽变大，手臂悬空，颈部扭动角度增大，极易疲劳。例如中国台湾冠魁电机股份有限公司生产的TVR6000晶片测试装置，其中用测试笔和测试仪连接，测试晶片的电性能，将测试结果显示在测试仪上的显示屏上，在测试仪和测试笔距离远的时候容易增加测试结果确认耗时，距离更大时操作员颈部及双手频繁扭动造成疲劳度增加或需增加测试员人数，同时操作员由于距离较远，手臂展宽变大，手臂悬空，颈部扭动角度增大，极易疲劳，增加了单个晶片的测试时间，降低测试效率。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提供了一种快速获知晶片测试结果且能有效缓解工作人员疲劳、测试效率高、单个晶片测试时间短的晶片电性能测试装置。

本实用新型的技术方案是：包括测试仪和测试笔，测试仪和测试笔之间通过信号线或无线传输连接，所述测试笔上设有开始按钮、通路指示灯和合格指示灯，所述开始按钮、通路指示灯和合格指示灯串联连接后连接5V电源；

所述开始按钮与所述通路指示灯之间设有门极可关断晶闸管，所述门极可关断晶闸管的门极连接一台脉冲发生器，所述门极可关断晶闸管的阳极连接开始按钮，所述门极可关断晶闸管的阴极连接通路指示灯。

所述脉冲发生器设于所述测试笔内，所述测试笔内还设有一种中央处理器，所述中央处理器通过IO口连接脉冲发生器，所述中央处理器通过信号线连接测试仪。

所述测试仪包括外壳、前面板和测试电路，所述前面板设于所述外壳上，所述测试电路置于所述外壳内；

所述前面板上设有若干指示灯和液晶显示屏，所述液晶显示屏通过信号线与中央处理器连接；

所述测试电路包括比较电路，所属比较电路包括比较器、降压电路和5V电源，所述降压电路包括电阻R1和电阻R2，所述电阻R1和电阻R2串联后接地，所述电阻R1接5V电源；

所述比较器的正向输入端连接在电阻R1和电阻R2之间，所述比较器的反向输入端连接晶片，所述比较器的输出端连接信号线；

所述比较器的电源端接5V电源，所述电压比较器的接地端接-5V电源。在测试笔接触到晶片时晶片就正向导通，此时，通过连接线检测正向导通的导通电压并送至比较器的反向输入端，5V电压经由电阻R1和电阻R2分压后得到+0.6V的电压，作为比较器的基准电压，输入到比较器的正向输入端，与反向输入端输入的电压比较，若实际测得的晶片导通电压小于0.6Ω（反向输入端输入电压小于0.6Ω，即反向输入端电压小于反向输入端电压），输出端输出+5V电压信号，经信号线或无线传输到测试笔，测试笔上的通路指示灯和合格指示灯亮，否则输出端输出-5V信号，测试笔上的通路指示灯和合格指示灯灭，完成测试。测试员观察测试笔后就能够判断晶片是否合格，不需要反复观察测试仪就能获知测试结果，加快了单个晶片的测试速度，提高整体测试效率。同时不需要测试员颈部及双手频繁扭动，能够有效缓解测试员的身体疲劳。

本实用新型检测时首先按下开始按钮，此时测试笔内的电路上电，由于门极可关断晶闸管（GTO）的作用电路处于断路状态。检测晶片时的主要工作由测试仪完成，当检测为合格时，测试仪经过信号线给测试笔发送信号，脉冲发生器检测到信号时就发出高电平（+5V）脉冲，GTO的门极得电，GTO导通，电路接通，通路指示灯和合格指示灯亮，晶片合格。当检测到晶片不合格时，脉冲发生器发出低电平（-5V）脉冲，GTO的门极关断，GTO处于截止状态，电路断开，通路指示灯和合格指示灯灭，表示晶片不合格。

在测试时由测试仪运算并比较晶片的电性参数（测试仪中预存有晶片的各项电性参数），当测试笔接触芯片并检测为合格时，测试仪上的仪表灯亮，此时测试仪发送信号，通过信号线或无线传输给测试笔，测试笔上的通路指示灯和合格指示灯亮，晶片合格。这样，测试员观察测试笔后就能够判断晶片是否合格，不需要反复观察测试仪就能获知测试结果，加快了单个晶片的测试速度，提高整体测试效率。同时不需要测试员颈部及双手频繁扭动，能够有效缓解测试员的身体疲劳。从整体上具有能快速获知晶片测试结果且能有效缓解工作人员疲劳、测试效率高、单个晶片测试时间短的优点。

附图说明