[实用新型]用于芯片性能检测和自动打点装置

权利要求书

1.一种用于芯片性能检测和自动打点装置，其特征在于：包括底座（1）、支架、基板（3）、测试载台（4）、测试气缸（5）和打点气缸（6），所述支架安装于底座（1）上表面，所述基板（3）嵌入底座（1）一侧的安装槽（101）内并与底座（1）固定连接，所述测试载台（4）通过若干螺栓（8）安装于基板（3）上表面且位于测试气缸（5）下方，所述支架由梁板（201）、竖板（202）和若干支撑柱（203）组成，所述竖板（202）位于梁板（201）一侧并与梁板（201）下表面固定连接，所述若干支撑柱（203）位于梁板（201）另一侧并分别与梁板（201）下表面固定连接，一安装板（22）安装于支架竖板（202）的外侧表面，此安装板（22）上表面安装有一连接板（23）；

所述测试气缸（5）安装于连接板（23）上表面且测试气缸（5）的活塞杆穿过连接板（23）与一测试滑块（24）固定连接，此测试滑块（24）通过一测试滑轨（25）与安装板（22）滑动连接，所述测试滑块（24）下方设置有一L形支架（26），此L形支架（26）下表面具有一测试压头（27），所述打点气缸（6）安装于连接板（23）上表面且打点气缸（6）的活塞杆穿过连接板（23）与一打点滑块（28）固定连接，此打点滑块（28）通过一打点滑轨（29）与安装板（22）滑动连接，所述打点滑块（28）下方设置有一供打点笔插入的笔架（30）；

还具有一平移机构，此平移机构包括第一气缸（31）、推板（32）、第二气缸（33）和活动挡板（34），所述安装板（22）通过滑轨与滑块活动安装于支架竖板（202）外侧表面，所述推板（32）通过滑轨与滑块活动安装于支架竖板（202）后侧表面，所述第一气缸（31）固定安装于竖板（202）后侧表面且位于推板（32）后方，所述第一气缸（31）的活塞杆与推板（32）后侧表面固定连接，所述第二气缸（33）安装于推板（32）后侧表面且第二气缸（33）的活塞杆通过一推块（35）与所述活动挡板（34）固定连接，所述活动挡板（34）远离平移机构的一端通过螺栓与安装板（22）侧表面固定连接。

2.根据权利要求1所述的用于芯片性能检测和自动打点装置，其特征在于：所述推板（32）后侧表面设置有一阶梯槽（36），所述第一气缸（31）的活塞杆通过一安装块（37）与阶梯槽（36）上表面通过螺钉固定。

3.根据权利要求1所述的用于芯片性能检测和自动打点装置，其特征在于：所述若干支撑柱（203）的数目为3个。

4.根据权利要求1所述的用于芯片性能检测和自动打点装置，其特征在于：所述测试压头（27）为橡胶压头。