[实用新型]一种多阈值低电压检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子电路领域，尤其是一种多阈值低电压检测电路。

背景技术

集成电路是指采用现代半导体加工技术加工而成的、内部集成了数量较大的晶体管、电阻电容等半导体器件、能完成特定功能且应用在现代电子系统中的一种微型部件。每一颗集成电路都需要有一个外部电压供电装置，并且该装置必须维持在一定的电压范围内(即每一颗集成电路都有一个稳定工作的电源电压范围)才能够正常工作，若超出了集成电路的正常工作电压范围就可能造成工作紊乱。常用的外部电压供电装置包括化学干电池、锂电池等，这些电池在给一颗集成电路供电时需要一定的时间，即集成电路的电源电压从零上升到该电路的电源电压规范值需要有一个过程。另一方面，以上电池在使用一段时间后其电压会慢慢降低，因此集成电路在使用过程中其电源电压是经常变化的，必须确保这种变化的范围保持在该电路的电源电压规范范围内，否则将造成电路内部信号出现不确定或者与预期结果相违背的情况，从而使得电路出现误操作等。

为了避免电路出现不正常的工作状态，通常会使用低电压检测电路对电源电压进行实时监测，当电源电压低于低电压检测有效值LVDA时，执行报警、复位和启动后备电池等操作。反之，当电源电压从零开始慢慢上升(这时由于电源电压很低，因此低电压检测结构肯定是起作用的)，当超过低电压检测释放值LVDR时，低电压检测被释放，电路进入正常的工作状态。因此对某一个低电压检测结构来说，其低电压检测值实际包括LVDA、LVDR两个值来表征其性能指标。

目前常见的低电压检测电路如图1所示，通常都采用一种能够体现电源电压变化的分压结构，产生一个分压电压信号，再与参考电压电路产生的参考电压一起输入比较器中进行比较，根据比较结果进行必要的处理，如延迟、整形等，然后输出相应的低电压检测信号，这种低电压检测电路对参考电压要求很高，同时由于其只具有唯一的低电压检测值，因此检测局限性也比较大，在实际应用过程中，可能会选用不同数量的化学干电池为集成电路供电，当化学干电池的数量不同时，低电压检测值(包括LVDA和LVDR)也应该不同，显然图1公开的检测电路无法对不同的低电压检测值进行检测，无法适用于不同的应用场景。

实用新型内容

本发明人针对上述问题及技术需求，提出了一种多阈值低电压检测电路，本申请可以设置多组低电压检测阈值，从而满足不同集成电路对低电压检测功能的要求。

本实用新型的技术方案如下：

一种多阈值低电压检测电路，该电路包括：信号输入端、m个控制信号端、信号输出端、分压模块、带隙基准模块、电阻控制模块、比较模块和触发器，电阻控制模块包括m个输入端和2^m个输出端，m为正整数；

分压模块的输入端连接信号输入端，分压模块的输出端连接比较模块的第一电压输入端，带隙基准模块的输出端连接比较模块的第二电压输入端，比较模块的输出端连接触发器的输入端，触发器的输出端连接信号输出端；分压模块中包括依次串联的第一可变电阻、第一电阻和第二电阻，该串联电路的一端连接分压模块的输入端、另一端接地，第一电阻和第二电阻的公共端连接分压模块的输出端，第一可变电阻的控制端连接电阻控制模块的输出端，电阻控制模块的每个输入端分别连接一个控制信号端；信号输入端用于连接待检测的电源电压，信号输出端用于输出低电压检测信号，m个控制信号端用于接收至少两个不同的控制信号组，多阈值低电压检测电路在接收到不同的控制信号组时，通过信号输出端输出与控制信号组对应的低电压检测信号。

其进一步的技术方案为，第一可变电阻包括N个依次串联的分压电阻，每个分压电阻分别与一个传输门并联，每个传输门的控制端分别连接电阻控制模块的一个输出端，1≤N≤2^m且N为整数。

其进一步的技术方案为，比较模块包括第一PMOS管、第二PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管，第一NMOS管的栅极与第二NMOS管的栅极相连并连接第一NMOS管的漏极，第一NMOS管的源极和第二NMOS管的源极分别接地，第一NMOS管的漏极还连接第一PMOS管的源极，第一PMOS管的栅极连接比较模块的第一电压输入端，第二NMOS管的漏极连接第二PMOS管的源极，第二PMOS管的栅极连接比较模块的第二电压输入端，第二NMOS管和第二PMOS管的公共端连接比较模块的输出端；