[实用新型]一种高速光电耦合器通用测试装置有效
| 申请号： | 201720936000.1 | 申请日： | 2017-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN206945862U | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 赵帅;乔秀铭;梁宇飞 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司11403 | 代理人： | 朱亲林 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高速 光电 耦合器 通用 测试 装置 | ||
1.一种高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的光电耦合器与测试插座连接；其中，所述测试电路板的一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器管脚或接口匹配的接口；所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组；
所述待测试的光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。
2.根据权利要求1所述的高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，所述测试插座中设置有扳手结构和铜片；其中，所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制待测光电耦合器的管脚与测试插座的连接强度。
3.根据权利要求1所述的高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，所述测试电路板中还设置有校验电路结构，用于接收同一待测光电耦合器的管脚信号并连接到集成电路测试系统的不同单元中，同时实现待测光电耦合器的测试和校验。
4.根据权利要求1所述的高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，所述测试电路板和/或所述测试插座的接口设置为弹性锁紧结构，其中，所述弹性锁紧结构为在接口位置相应设置有弹性结构，用于使得插入接口中的管脚或者插头固定锁紧。
5.根据权利要求1所述的高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，所述集成电路测试系统为AMIDA 3KS测试系统。
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