[实用新型]一种高速光电耦合器通用测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，特别是指一种高速光电耦合器通用测试装置。

背景技术

当前随着科学的发展，各种测试系统的功能越来越强大、全面。但是也给小部件的测试尤其是模块化的测试带来了问题，例如对于一个功能全面的测试系统，基于普遍性与通用性，测试系统的结构设置成可以与不同器件连接的方式，虽然使得不同器件均能实现不同的测试目的，但是每次测试不同器件时，均需要逐个管脚依次与测试系统连接，不仅费时费力，而且容易出现人工误差，导致测试的失误。因此在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下缺陷：对于器件的功能测试尤其是光电耦合器测试的效率和准确性不高。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种高速光电耦合器通用测试装置，在利用现有测试装置的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。

基于上述目的本实用新型提供的一种高速光电耦合器通用测试装置，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统：所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的光电耦合器与测试插座连接；其中，所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器的管脚或接口匹配的接口；

所述待测试的光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。

可选的，所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组。

可选的，所述测试插座中设置有扳手结构和铜片；其中，所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制器件管脚与测试插座的连接强度。

可选的，还包括转接插座；所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统连接。

可选的，所述测试插座中设置有与待测光电耦合器对应的凹槽结构，用于对待测光电耦合器进行定位和保护。

可选的，所述测试电路板中还设置有校验电路结构，用于接收同一待测光电耦合器的管脚信号并连接到集成电路测试系统的不同单元中，同时实现待测光电耦合器的监测和校验。

可选的，所述测试电路板和/或所述测试插座的接口设置为弹性锁紧结构，其中，所述弹性锁紧结构为在接口位置相应设置有弹性结构，用于使得插入接口中的管脚或者插头固定锁紧。

可选的，所述集成电路测试系统为AMIDA 3KS测试系统。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的高速光电耦合器通用测试装置通过在测试电路板上设计与集成电路测试系统配合的接口将集成电路测试系统的接口转化为在测试电路板上对应预定待测目标的标准接口，通过测试插座将不同型号大小的待测光电耦合器的连接转化为测试插座与测试电路板对应的插接式接口，使得针对于不同型号大小的待测光电耦合器的测试能够通过测试电路板与测试插座的配合实现快速连接，进而提高待测光电耦合器的测试效率，尤其是进行批量测试时，只需要预先将测试电路板与集成电路测试系统连接，然后就可以根据需要将待测光电耦合器插入匹配的测试插座中，然后通过测试插座插接到测试电路板，实现与集成电路测试系统的连接。同时，基于所述测试电路板和测试插座将待测光电耦合器与集成电路测试系统的测试连接转化为标准的插口或者管脚的连接，避免了人工将管脚与集成电路测试系统的测试系统的连线连接，降低测试过程中的人工误差。因此，本申请所述的高速光电耦合器通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。

附图说明

图1为本实用新型提供的高速光电耦合器通用测试装置的一个实施例的结构示意图；

图2为本实用新型提供的测试电路板对应的电路框图；

图3为本实用新型提供的测试插座的一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。