[实用新型]一种基于CMOS工艺的ESD防护电路及结构有效

专利信息
申请号: 201720938632.1 申请日: 2017-07-28
公开(公告)号: CN207489872U 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 邓青秀;肖永贵;廖晓鹰;石开伟 申请(专利权)人: 深圳市汇春科技股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 唐致明
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区布*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 输入/输出接口 电路 本实用新型 二极管 驱动管 输出端 输入端连接 内部信号 集成电路技术 抗静电能力 电源反接 反向击穿 高压静电 低功耗 驱动端 晶体管 衬底 电阻 阱区 驱动 伤害
【权利要求书】:

1.一种基于CMOS工艺的ESD防护电路,其特征在于,其包括预驱动端、驱动管、保护电路、输入/输出接口端和内部信号端,所述预驱动端的输出端与所述驱动管的输入端连接,所述驱动管的输出端与所述保护电路的输入端连接,所述保护电路的输出端与所述输入/输出接口端连接,所述内部信号端通过连接所述保护电路与所述输入/输出接口端连接,所述保护电路包括第一二极管和第二二极管,所述第一二极管的负极连接电源,所述第一二极管的正极分别与所述输入/输出接口端、所述第二二极管的负极连接,所述第二二极管的正极连接电源地,所述预驱动端包括第一预驱动端和第二预驱动端,所述驱动管包括第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管,所述第一预驱动端与所述第一PMOS晶体管的栅极连接,所述第一PMOS晶体管的源极连接电源,所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第一NMOS晶体管的漏极连接,所述第一NMOS晶体管的源极连接电源地,所述第二预驱动端与所述第一NMOS晶体管的栅极连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于CMOS工艺的ESD防护电路,其特征在于,所述保护电路还包括第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管,所述第二PMOS晶体管的源极与栅极连接,所述第二PMOS晶体管的源极还分别与电源、所述第一PMOS晶体管的源极、所述第一二极管的负极连接,所述第一二极管的正极连接所述输入/输出接口端,所述第二PMOS晶体管的漏极分别与所述第二NMOS晶体管的漏极、所述第一PMOS晶体管的漏极、所述输入/输出接口端连接,所述第二NMOS晶体管的源极与栅极连接,所述第二NMOS晶体管的源极还分别与电源地、所述第一NMOS晶体管的源极、所述第二二极管的正极连接,所述第一二极管的负极连接所述输入/输出接口端,所述第二NMOS晶体管的漏极还分别与所述第二二极管的负极、所述第一NMOS晶体管的漏极连接。

3.根据权利要求2所述的一种基于CMOS工艺的ESD防护电路,其特征在于,所述保护电路还包括第一电阻、第二电阻和第三NMOS晶体管,所述第三NMOS晶体管的源极与栅极连接,所述第三NMOS晶体管的源极连接电源地,所述第三NMOS晶体管的漏极与所述内部信号端连接,所述第三NMOS晶体管的漏极通过连接并联的第一电阻和第二电阻与输入/输出接口端连接。

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