[实用新型]利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构

权利要求书

1.一种利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：它包括底座（1）和与所述底座（1）相铰接的上盖（2）及固定设置于所述底座（1）内的针板结构（3），所述针板结构（3）包括从上至下依次设置的压盖（4）、转接排线（5）、硅胶针板（6）、金手指（7）和载板（8），所述硅胶针板（6）和所述载板（8）之间设有与所述金手指（7）相适配的卡缝。

2.根据权利要求1所述的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：所述载板（8）内设有定位槽（9），所述硅胶针板（6）设置于所述定位槽（9）内，且所述硅胶针板（6）与所述定位槽（9）之间设有所述卡缝，所述金手指（7）插入于所述卡缝内后与所述硅胶针板（6）相连接，所述转接排线（5）与所述硅胶针板（6）相连接。

3.根据权利要求1或2所述的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：所述针板结构（3）还包括底板（10）和若干个等高螺丝（11），所述载板（8）设置于所述底板（10）的上端，所述底板（10）设置于所述底座（1）上端，且所述底板（10）通过若干个所述等高螺丝（11）与所述底座（1）相固定连接。

4.根据权利要求2所述的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：所述硅胶针板（6）包括硅胶块，所述硅胶块内镶嵌有若干个探针。

5.根据权利要求1所述的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：所述载板（8）为凹形板，所述压盖（4）为与所述载板（8）相适配的凸形板。

6.根据权利要求1所述的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：所述上盖（2）设有与所述压盖（4）相适配的压块（12）。