[实用新型]光学式瑕疵检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学式瑕疵检测系统，更明确地说明，本实用新型是一种改良的光学式瑕疵检测系统，可承载检测多种尺寸待检测物的瑕疵表面。

背景技术

消费电子产品的轻薄短小需求，尺寸多样，客制化需求越来越多，所以相同机台要符合多样尺寸，少量生产，或是单一尺寸，大量生产，两种类型的生产需求都要兼顾。

面对这些客户需求，检测机台的设备尺寸会与待测物的尺寸息息相关，以往的作法，单一机台的尺寸与可检测的尺寸必须先决定，也就是说单一设备只能检测某些范围的尺寸大小，如果买一台大尺寸的机台，去检测小尺寸的待测物，整体的检测效率会下降，成本会上升，但如果买的检测设备可量测尺寸过小，又无法满足某些特定客户大尺寸检测的需求，以致于相同检测功能的机台，往往会各自独立购买，某部分的机台负责检测小尺寸，某部分机台负责检测大尺寸样品。

中国授权公告CN202974878U实用新型专利揭露一种电路板脱机检测系统，包含：两个台面21、22，单一台面各别承载一小尺寸电路板1且各别被驱动在一往复方向上移动；以及一相机11，用以拍摄该小尺寸电路板1的一检测面，其中该相机11安装于一相机移动轴17且在垂直于该往复方向上移动。请依序参考图1A至图1F，当上料装置(图未示)将小尺寸电路板1完成上料至台面21，如箭头A所示，而下料装置(图未示)将小尺寸电路板1从台面22完成下料，如箭头B所示，相机移动轴17驱动相机11对准台面21，如图1A所示。台面21、22各别被驱动在各自的往复方向上移动，如图1B所示箭头，其中台面21往下料区移动且相机11拍摄小尺寸电路板1的检测面进行表面瑕疵检测，而台面22往上料区移动。

当台面21的小尺寸电路板1完成表面瑕疵检测，台面21到达下料区准备下料，此时台面22亦到达上料区准备上料，如图1C所示。当下料装置(图未示)将小尺寸电路板1从台面21完成下料，而上料装置(图未示)将小尺寸电路板1完成上料至台面22时，相机移动轴17驱动相机11对准台面22，如图1D所示。台面21、22各别被驱动在各自的往复方向上移动，如图1E所示箭头，其中台面21往上料区移动，而台面22往下料区移动且相机11拍摄小尺寸电路板1的检测面进行表面瑕疵检测。当台面22的小尺寸电路板1完成表面瑕疵检测，台面22到达下料区准备下料，此时台面21亦到达上料区准备上料，如图1F所示。接下来又循环到图1A所示，台面21、22持续分别进行检测。

如上述现有技术所示检测系统，仅适于检测小尺寸电路板1，而当待检测的电路板宽度大于台面21、22的宽度时，上述检测系统便无法用以检测该待检测的电路板。因此，本实用新型提供一种可承载检测多种尺寸待检测物的光学式瑕疵检测系统，将有助于产业的实用性。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种可承载检测多种尺寸待检测物的光学式瑕疵检测系统，可通过多个台面分别承载小尺寸待检测物且分别在一往复方向上移动进行表面瑕疵检测，或多个台面共同承载大尺寸待检测物且共同在一往复方向上移动进行表面瑕疵检测，其中在垂直于该往复方向上，小尺寸待检测物的检测面的宽度小于相机在该检测面的取像宽度，而大尺寸待检测物的检测面的宽度大于相机在该检测面的取像宽度。

为了达到上述实用新型目的，本实用新型提供的一种光学式瑕疵检测系统，包含：多个台面，被驱动在一往复方向上移动；一影像拍摄系统，包含一相机，该相机用以从一待检测物的一检测面上拍摄影像；以及一移动控制装置，控制该等台面在该往复方向上移动，且控制该相机在垂直于该往复方向上移动；该等台面用以共同承载该待检测物且共同在该往复方向上移动，并在垂直于该往复方向上，该待检测物的检测面的宽度大于该相机在该检测面的取像宽度，且该移动控制装置控制该等台面至少一次的往复移动中，该相机的拍摄影像才扫描过该待检测物的全部检测面。

其中，该影像拍摄系统在该往复方向的其中一个方向扫描完成该待检测物的部分检测面后，该影像拍摄系统会通知该移动控制装置控制该相机在垂直于该往复方向上移动。

其中，本实用新型光学式瑕疵检测系统进一步包含：一相机移动轴，该相机安装于该相机移动轴而在垂直于该往复方向上移动，而该移动控制装置控制该相机移动轴至少一次移动该相机，俾使在该等台面至少一次的往复移动中，该相机的拍摄影像才扫描过该待检测物的全部检测面。