[实用新型]一种光纤中继芯片测试系统有效

专利信息
申请号: 201720978024.3 申请日: 2017-08-07
公开(公告)号: CN207251622U 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 钱向东 申请(专利权)人: 广东利扬芯片测试股份有限公司
主分类号: H04B10/073 分类号: H04B10/073
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司44215 代理人: 刘克宽
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 中继 芯片 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种光纤中继芯片测试系统,包括用于插接被测芯片的探针卡和对被测芯片进行测试的测试机,其特征在于,还包括误码率分析仪和处理单元,所述处理单元与所述误码率分析仪相互通信,所述误码率分析仪连接到所述探针卡;

所述处理单元用于接收外部指令信号并发出启动信号给所述误码率分析仪,所述误码率分析仪根据收到的启动信号发出检测信号给所述探针卡,所述探针卡与所述被测芯片通信从而传输检测信号给所述被测芯片,所述被测芯片根据收到的检测信号输出反馈信号,该反馈信号经所述探针卡传输给误码率分析仪,所述误码率分析仪根据发出的检测信号和收到的反馈信号的比较结果输出误码率判断信号给所述处理单元,所述处理单元根据所述误码率判断信号生成误码率数值。

2.根据权利要求1所述的光纤中继芯片测试系统,其特征在于,所述误码率分析仪和所述处理单元分别设有USB端口,两者通过这个USB端口连接。

3.根据权利要求1所述的光纤中继芯片测试系统,其特征在于,所述误码率分析仪通过光纤连接到所述探针卡,检测信号由所述误码率分析仪经所述光纤传输到所述探针卡。

4.根据权利要求3所述的光纤中继芯片测试系统,其特征在于,所述探针卡通过同轴线连接到所述误码率分析仪,反馈信号由所述探针卡经同轴线传输到所述误码率分析仪。

5.根据权利要求1所述的光纤中继芯片测试系统,其特征在于,所述探针卡和所述测试机通过电缆线连接。

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