[实用新型]一种光纤中继芯片测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种光纤中继芯片测试系统。

背景技术

光纤通讯技术自面世以来就深得大家喜欢，其主要原因是同比其它通讯手段相比，具有无与伦比的优越性，如通讯容量大、中继距离长、保密性能好、适应能力强、速度快等，然而目前的技术还是存在一定的局限性，光纤通讯需要依靠光纤中继芯片来辅助完成远距离的数据传送，故高速光纤通讯光纤中继芯片在这项重大突破中起到了至关重要的作用，随着光纤通讯技术的广泛应用，光纤中继芯片需求与日倍增，光纤中继芯片的测试成为了至关重要的问题。目前，对光纤中继芯片的测试主要是通过探针卡和测试机来测试芯片工作电流和相关DC参数，完成芯片工作电流和相关DC参数的测试后，为了节省测试时间，再抽取部分光纤中继芯片，通过单独的设备对这些抽取出的光纤中继芯片进行误码率测试，而不能对全部光纤中继芯片进行测试，这样不能完全保证芯片的出品质量。

发明内容

本实用新型的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种光纤中继芯片测试系统，可以实现在对芯片工作电流和相关DC参数进行测试的时候，也对芯片的误码率进行测试。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现：

提供一种光纤中继芯片测试系统，包括用于插接被测芯片的探针卡和对被测芯片进行测试的测试机，还包括误码率分析仪和处理单元，所述处理单元与所述误码率分析仪相互通信，所述误码率分析仪连接到所述探针卡；

所述处理单元用于接收外部指令信号并发出启动信号给所述误码率分析仪，所述误码率分析仪根据收到的启动信号发出检测信号给所述探针卡，所述探针卡与所述被测芯片通信从而传输检测信号给所述被测芯片，所述被测芯片根据收到的检测信号输出反馈信号，该反馈信号经所述探针卡传输给误码率分析仪，所述误码率分析仪根据发出的检测信号和收到的反馈信号的比较结果输出误码率判断信号给所述处理单元，所述处理单元根据所述误码率判断信号生成误码率数值。

其中，所述误码率分析仪和所述处理单元分别设有USB端口，两者通过这个USB端口连接。

其中，所述误码率分析仪通过光纤连接到所述探针卡，检测信号由所述误码率分析仪经所述光纤传输到所述探针卡。

其中，所述探针卡通过同轴线连接到所述误码率分析仪，反馈信号由所述探针卡经同轴线传输到所述误码率分析仪。

其中，所述探针卡和所述测试机通过电缆线连接。

本实用新型的有益效果：在光纤中继芯片测试系统中加入误码率分析仪和处理单元，通过处理单元发出的启动信号促使误码率分析仪输出一个检测信号，这个检测信号传输到被测芯片后由被测芯片生成反馈信号返回给误码率分析仪，误码率分析仪用检测信号和反馈信号就可以判断这个被测芯片的误码率情况，从而实现对芯片的误码率的测试。同时，探针卡和测试机配合测试芯片工作电流和相关DC参数，该光纤中继芯片测试系统依然可以对芯片工作电流和相关DC参数进行测试。

附图说明

图1为光纤中继芯片测试系统框图。

具体实施方式

本实施例的光纤中继芯片测试系统，包括用于插接被测芯片的探针卡和对被测芯片进行测试的测试机，还包括误码率分析仪和处理单元，处理单元与误码率分析仪相互通信，误码率分析仪连接到探针卡。误码率分析仪和处理单元分别设有USB端口，两者通过这个USB端口连接；误码率分析仪通过光纤连接到探针卡，检测信号由误码率分析仪经光纤传输到探针卡；探针卡通过同轴线连接到误码率分析仪，反馈信号由探针卡经同轴线传输到误码率分析仪；探针卡和测试机通过电缆线连接。

处理单元用于接收外部指令信号并发出启动信号给误码率分析仪，误码率分析仪根据收到的启动信号发出检测信号给探针卡，探针卡与被测芯片通信从而传输检测信号给被测芯片，被测芯片根据收到的检测信号输出反馈信号，该反馈信号经探针卡传输给误码率分析仪，误码率分析仪根据发出的检测信号和收到的反馈信号的比较结果输出误码率判断信号给处理单元，处理单元根据误码率判断信号生成误码率数值。

该光纤中继芯片测试系统在传统的光纤中继芯片测试系统中加入误码率分析仪和处理单元，通过处理单元发出的启动信号促使误码率分析仪输出一个检测信号，这个检测信号传输到被测芯片后由被测芯片生成反馈信号返回给误码率分析仪，误码率分析仪用检测信号和反馈信号就可以判断这个被测芯片的误码率情况，从而实现对芯片的误码率的测试。同时，探针卡和测试机配合测试芯片工作电流和相关DC参数，该光纤中继芯片测试系统依然可以对芯片工作电流和相关DC参数进行测试。