[实用新型]光电探测器有效

专利信息
申请号: 201721004069.7 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN207441732U 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 张捷 申请(专利权)人: 西安科锐盛创新科技有限公司
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/028;H01L31/18
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710065 陕西省西安市高新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 光电探测器 本实用新型 金属电极 晶化 界面缺陷 量子效率 依次层叠 依次排列 暗电流 衬底层 衬底
【权利要求书】:

1.一种光电探测器,其特征在于,包括:

SOI衬底(11),包括依次层叠设置的Si衬底层(110)、SiO2层(120)和Si层,所述Si层包括水平方向依次排列的N型掺杂区(111)、i型区(112)和P型掺杂区(113);

晶化Ge层(12),设置于所述i型区(112)表面上;

金属电极(13),所述金属电极(13)分别设置于所述N型掺杂区(111)和所述P型掺杂区(113)之上;

SiO2钝化层(14),设置于所述晶化Ge层(12)和所述Si层之上。

2.根据权利要求1所述的光电探测器,其特征在于,所述SiO2层(120)的厚度为1μm。

3.根据权利要求1所述的光电探测器,其特征在于,所述金属电极(13)材料为Cr或者Au或者Ni。

4.根据权利要求1所述的光电探测器,其特征在于,所述晶化Ge层(12)厚度为190~300nm。

5.根据权利要求1所述的光电探测器,其特征在于,所述SiO2钝化层(14)的厚度为300~350nm。

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