[实用新型]一种斜面型胀差校验仪有效

专利信息
申请号: 201721021227.X 申请日: 2017-08-15
公开(公告)号: CN207096146U 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 程卫国;陈海兵;陆文华;范凯;张星晴;徐辉平;钱安家 申请(专利权)人: 上海发电设备成套设计研究院有限责任公司
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司31001 代理人: 翁若莹
地址: 201100 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 斜面 型胀差 校验
【权利要求书】:

1.一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,包括带刻度的底盘(2),带刻度的底盘(2)的两端分别与两个固定支架连接,每个固定支架上分别设有一个测量探头,带刻度的底盘(2)上设有精密平移滑块(11),精密平移滑块(11)与平移测微螺杆(12)连接,精密平移滑块(11)上设有用于放置测量靶块(7)的带刻度的精密旋转滑块(14),带刻度的精密旋转滑块(14)与旋转微调螺杆(15)和粗调手柄(16)连接,两个测量探头相对设置,测量靶块(7)设于两个测量探头之间。

2.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,所述的带刻度的精密旋转滑块(14)内部设有确保带刻度的精密旋转滑块(14)能够均匀、平稳、旋转的平面轴承。

3.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,每个所述的固定支架上设有V型槽,测量探头设于V型槽内。

4.如权利要求3所述的一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,所述的测量探头通过设于固定支架上的带紫铜压块的固定螺钉紧固。

5.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,所述的测量探头为被校验的斜面型胀差监视器所使用的传感器。

6.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪,其特征在于,所述的精密平移滑块(11)采用精密滚珠式双V型滑动导轨。

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