[实用新型]用于引线框架的系统有效

专利信息
申请号: 201721027383.7 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN207818564U 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: S·圣日尔曼;D·L·柯奈尔;J·A·尤德 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 申发振
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 引线框架 第一表面 本实用新型 第二表面 流体流动 控制引线 蚀刻 重合 相背 穿过
【权利要求书】:

1.一种用于引线框架的系统,包括:

所述引线框架的第一表面;

所述引线框架的与所述第一表面相背对的第二表面,所述第二表面已被蚀刻;和

穿过所述引线框架并与所述第一表面和所述第二表面重合的一个或多个孔,

其中所述一个或多个孔适于控制所述第一表面上的流体流动。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述流体包括回流焊料。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二表面包括半蚀刻区域。

4.根据权利要求1所述的系统,还包括在所述第一表面上的流体,所述流体在所述第一表面上具有至少部分地被所述一个或多个孔影响的分布。

5.根据权利要求1所述的系统,还包括在所述第一表面上的流体,所述流体部分地填充所述一个或多个孔。

6.根据权利要求1所述的系统,还包括在所述第一表面上的流体,所述流体至少部分地环绕所述一个或多个孔的孔隙。

7.根据权利要求1所述的系统,还包括在所述第一表面上的流体,所述流体跨越所述一个或多个孔的孔隙。

8.根据权利要求1所述的系统,还包括在所述第一表面上的流体,其中所述流体是从包括环氧树脂、聚酰亚胺、有机硅粘合剂、混合有机粘合剂、软焊料和共晶焊料的组中选出的一种。

9.根据权利要求1所述的系统,还包括使用焊料耦接到所述第一表面的管芯,所述管芯在所述第一表面上的位置至少部分地被所述一个或多个孔影响。

10.根据权利要求9所述的系统,还包括使用焊料将所述引线框架耦接到所述管芯的夹子,所述夹子具有一个或多个附加孔,所述夹子相对于所述管芯的位置至少部分地由所述一个或多个附加孔确定。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于半导体元件工业有限责任公司,未经半导体元件工业有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721027383.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top