[实用新型]一种膜表面缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201721045488.5 申请日: 2017-08-21
公开(公告)号: CN207215722U 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 张梁;董玉静;李波;温晔;陈维华 申请(专利权)人: 中导光电设备股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/95
代理公司: 广州维智林专利代理事务所(普通合伙)44448 代理人: 赵晓慧
地址: 526238 广东省肇庆市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 表面 缺陷 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种膜表面缺陷检测装置,其特征在于:

所述装置包括:暗场照明光路、亮场照明光路、半反半透镜、全反镜、成像镜头、线扫相机;其中,成像镜头和线扫相机位于半反半透镜的竖直方向上方,成像镜头位于线扫相机与半反半透镜之间;亮场照明光路位于半反半透镜的水平方向一侧,全反镜位于半反半透镜的水平方向与亮场照明光路呈180度相位的另一侧。

2.根据权利要求1所述的一种膜表面缺陷检测装置,其特征在于:

所述半反半透镜与水平方向呈45度角放置。

3.根据权利要求1或2所述的一种膜表面缺陷检测装置,其特征在于:

所述暗场照明光路从下到上包括暗场聚焦透镜、导光板、暗场线光源,导光板和暗场线光源位于暗场聚焦透镜的焦平面上,所述暗场聚焦透镜的焦平面与水平方向呈锐角放置。

4.根据权利要求3所述的一种膜表面缺陷检测装置,其特征在于:

所述锐角为45度或60度。

5.根据权利要求1或2所述的一种膜表面缺陷检测装置,其特征在于:

所述亮场照明光路包括亮场聚焦透镜和亮场线光源,其中亮场聚焦透镜位于亮场线光源和半反半透镜之间。

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