[实用新型]一种碳化硅芯片的合格率检测设备

说明书

本实用新型公开了一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座、芯片扫描检测设备、检测安装板、放料传送带和芯片卡槽，所述底座的顶部安装有伺服电机，且伺服电机的顶部通过联轴器安装有主动轮，所述放料传送带的上均匀分布有芯片卡槽，所述放料传送带下方的底座上通过电动升降柱安装有透明支撑板，所述检测安装板的顶部安装有探针固定板，所述探针固定板的内部安装有FMSL高频读写板，且FMSL高频读写板的输出端均匀安装有贯穿探针固定板的检测探针。本实用新型相对于传统检测设备，设计合理，操作简单，设置的检测探针以及芯片扫描检测设备可以对芯片进行双重检测，避免漏检的情况，进而提高了检测的质量，同时也提高了合格率检测的质量。

技术领域

本实用新型涉及碳化硅芯片检测技术领域，具体为一种碳化硅芯片的合格率检测设备。

背景技术

随着时代的发展，人们的生活水平不断地提高，人们对于高科技电子设备的使用越来越广泛，现有的电子设备中大多采用碳化硅芯片，作为处理器，因此芯片的质量决定电子设备的使用，在碳化硅芯片的生产过程中，其工序主要包括固晶、焊接、检测、刷胶，其中，检测就是对固晶、焊接完成的芯片进行性能检测，由于生产中的每张待测芯片上具有一定数量的节点，工作人员只能用读卡器挨个对每张待测芯片进行检测，由于一次只能检测一枚芯片，耗时耗力，效率较低，且存在漏检的现象发生，不利于批量生产使用，且检测的方式比较单一不能够彻底检测芯片的合格率，因此有必要对现有技术进行改进，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种碳化硅芯片的合格率检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座、芯片扫描检测设备、检测安装板、放料传送带和芯片卡槽，所述底座的顶部安装有伺服电机，且伺服电机的顶部通过联轴器安装有主动轮，所述服电机一侧的底座上通过支撑柱安装有从动轮，且主动轮与从动轮上安装有放料传送带，所述放料传送带的上均匀分布有芯片卡槽，所述放料传送带下方的底座上通过电动升降柱安装有透明支撑板，且透明支撑板紧贴放料传送带的下表面，所述伺服电机与支撑柱之间的底座上安装有芯片扫描检测设备，且芯片扫描检测设备的顶部安装有检测板，所述芯片扫描检测设备一侧的底座上安装有电动伸缩柱，且电动伸缩柱的顶部安装有检测安装板，所述检测安装板的顶部安装有探针固定板，所述探针固定板的内部安装有FMSL高频读写板，且FMSL高频读写板的输出端均匀安装有贯穿探针固定板的检测探针。

优选的，所述检测板上表面的中央位置处安装有红外线定位灯。

优选的，所述芯片扫描检测设备的正面安装有检测指标显示器。

优选的，所述透明支撑板上均匀分布有与芯片卡槽配合使用的支撑凸起。

优选的，所述主动轮与从动轮位于同一水平面，且主动轮与从动轮的直径相同。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该碳化硅芯片的合格率检测设备相对于传统检测设备，设计合理，操作简单，设置的检测探针以及芯片扫描检测设备可以对芯片进行双重检测，避免漏检和检测不彻底的情况，进而提高了检测的质量，同时也提高了合格率检测的质量，设置的放料转送带可以对芯片进行批量检测，进而提高了检测的效率，便于厂家生产芯片的批量检测，设置的检测探针可以对芯片进行全方位检测，设置的透明支撑板可以对芯片进行支撑，同时也可以对检测后的芯片进行下料，便于检测工人的操作，节约了人力物力，便于推广使用。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的俯视图。