[实用新型]一种测试平台

权利要求书

1.一种测试平台，其特征在于，包括：供电模块、第一全控型器件、第二全控型器件、驱动模块、主控模块、控制模块和测试模块；

所述供电模块的第一端与所述第一全控型器件的第一端电连接，所述供电模块的第二端与所述第二全控型器件的第二端电连接，所述第一全控型器件的第二端与所述第二全控型器件的第一端电连接；

所述主控模块的输出端与所述驱动模块的输入端连接，所述驱动模块的第一输出端与所述第一全控型器件的控制端连接，第二输出端与所述第二全控型器件的控制端连接；其中，所述主控模块用于产生初始的第一驱动信号和初始的第二驱动信号，所述驱动模块用于根据所述初始的第一驱动信号为所述第一全控型器件提供第一驱动信号，根据所述初始的第二驱动信号为所述第二全控型器件提供第二驱动信号；

所述控制模块与所述第一全控型器件并联；其中，所述控制模块所在支路导通时，对所述第二全控型器件和所述驱动模块进行双脉冲测试；所述控制模块所在支路断开时，对所述第二全控型器件和所述驱动模块进行短路测试；所述测试模块与所述第二全控型器件的第一端、第二端以及控制端电连接，用于检测和显示测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述控制模块包括：电感L与开关；所述电感L与所述开关串联。

3.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述控制模块所在支路导通时，所述初始的第一驱动信号为低电平信号，所述初始的第二驱动信号为双脉冲信号；

所述控制模块所在支路断开时，所述初始的第一驱动信号为高电平信号，所述初始的第二驱动信号为预设时间内为高电平、所述预设时间外为低电平的信号。

4.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述测试模块包括示波器；

所述示波器的第一电压探头的第一端与所述第二全控型器件的第一端连接，所述第一电压探头的第二端与所述第二全控型器件的第二端连接，用于检测所述第二全控型器件的第一端与第二端之间的电压；所述示波器的第二电压探头的第一端与所述第二全控型器件的控制端连接，所述第二电压探头的第二端接地，用于检测所述第二驱动信号；所述示波器的电流探头连接所述第二全控型器件的第二端，用于检测所述第二全控型器件的第二端的电流。

5.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述供电模块包括：直流电源和母排电容；所述直流电源与所述母排电容并联；其中，所述直流电源的第一端作为所述供电模块的第一端，所述直流电源的第二端作为所述供电模块的第二端；或者，

所述供电模块包括：交流电源、整流电路和母排电容；所述交流电源的两端分别与所述整流电路的两个交流输入端电连接，所述整流电路的第一直流输出端与所述母排电容的第一端电连接，所述整流电路的第二直流输出端与所述母排电容的第二端电连接；其中，所述整流电路的第一直流输出端作为所述供电模块的第一端，所述整流电路的第二直流输出端作为所述供电模块的第二端。

6.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述第一全控型器件和所述第二全控型器件为同型号的绝缘栅双极型晶体管。

7.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述第一全控型器件和所述第二全控型器件为同型号的电力场效应晶体管。

8.根据权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述主控模块包括微机控制MCU芯片或数字信号处理DSP芯片。

9.根据权利要求8所述的测试平台，其特征在于，所述微机控制MCU芯片为单片机或现场可编程逻辑门阵列FPGA。