[实用新型]一种芯片测试和编带调整装置

权利要求书

1.一种芯片测试和编带调整装置，包括吸嘴（9）、测试装置（1）以及在载带（7）上方按工艺顺序排列的防翘脚入袋机构（2）和防盖带偏移机构（3），所述吸嘴（9）将测试装置（1）测试后的芯片（8）转入防翘脚入袋机构（2），其特征在于，其中：

所述测试装置（1）包括霍尔线圈（11），在所述霍尔线圈（11）顶部的调试区的几何中心处设置一测试芯片（8）的沉孔；

所述防翘脚入袋机构（2）包括方形压板（21）和由方形压板（21）的中部向载带（7）运行方向外伸设置的编带窗口（22）；方形压板（21）和编带窗口（22）固定连接成一体；所述编带窗口（22）底部开放为外开口（225）；

所述防盖带偏移机构（3）包括压板（31）、支架（32）和固定架（33）；所述压板（31）、支架（32）和固定架（33）依次连接，连接方式为软连接，压板（31）的侧面设有引导盖带走向的盖带槽（311），盖带槽（311）的宽度和盖带一致；

所述编带窗口（22）和盖带槽（311）的竖向中心线在同一平面。

2.根据权利要求1所述的芯片测试和编带调整装置，其特征在于：

所述测试装置（1）还包括项圈（12）、测试基座（13）、霍尔测试片和霍尔活动夹（16）；所述霍尔线圈（11）包括工字形支架（112）及包覆在工字形支架（112）中间部分的漆包线卷（111），所述工字形支架（112）一端为环台（1121），环台（1121）中心处为圆形凹槽（1124），作为测试芯片（8）的沉孔；所述圆形凹槽（1124）的中心处为圆形通孔（1123）；所述测试基座（13）为圆环形，嵌入圆形凹槽（1124）内，测试基座（13）中间为方形的项圈定位孔（132），项圈（12）嵌入项圈定位孔（132）内；所述霍尔测试片固定于测试基座（13）的上表面；所述霍尔活动夹（16）置入圆形通孔（1123）内；

所述圆形凹槽（1124）的深度不小于测试基座（13）、霍尔测试片和芯片（8）的厚度之和；

所述编带窗口（22）的底部形状和大小与载带（7）的布袋开口一致；

所述软连接通过弹性机构和定向轨道机构配合实现；所述盖带槽（311）的深度大于盖带的厚度。

3.根据权利要求2所述的芯片测试和编带调整装置，其特征在于：

所述环台（1121）上，由圆形凹槽（1124）向外开有两个左右对称的开槽（1122）；

所述编带窗口（22）包括底部的方形区（221）和上部的承接区（222），两者厚度比为2～4∶6～8；

所述压板（31）上表面固定有垂直的压板公轨杆（312）；所述支架（32）的底面设置有和压板公轨杆（312）配合作用的支架母轨孔（321），支架（32）的侧面垂直固定有支架公轨杆（322）；所述固定架（33）的侧面设置有和支架公轨杆（322）配合作用的固定架母轨孔（332）；靠近压板公轨杆（312）的位置设置有压板（31）和支架（32）底面之间的弹性机构，靠近的支架公轨杆（322）的位置设置有支架（32）侧面和固定架（33）侧面之间的弹性机构；所述定向轨道机构即配合使用的压板公轨杆（312）和支架母轨孔（321）以及支架公轨杆（322）和固定架母轨孔（332）。

4.根据权利要求3所述的芯片测试和编带调整装置，其特征在于：

所述漆包线卷（111）的两端和环台（1121）直接接触，漆包线卷（111）的周边外露；

所述承接区（222）呈外开的喇叭口状，承接区（222）内边为外开斜面（223）；

所述防盖带偏移机构（3）的弹性机构为弹簧或弹片。

5.根据权利要求4所述的芯片测试和编带调整装置，其特征在于：

所述外开斜面（223）的外开角度为20～40°；

所述弹簧为压板（31）和支架（32）底面之间的竖向弹簧（35）以及支架（32）侧面和固定架（33）侧面之间的横向弹簧（34）。