[实用新型]一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统

说明书

本实用新型涉及一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统，其包括钻孔器，钻孔器采用轴中空的倒T型结构，其端部对应于圆弧物体表面，与端部垂直的延伸部内设置有半导体激光器和半透半反镜；位于延伸部侧壁设置有一通孔，该通孔的圆心与半透半反镜的中心位于同一水平线；半导体激光器发射出的激光光束传输至半透半反镜后，分为第一透射光和第一反射光；第一透射光经透明介质垂直照射在圆弧物体表面上后，反射回半透半反镜，经半透半反镜再次分束成第二透射光和第二反射光；第二反射光穿过通孔照射在位于钻孔器外部的镜面全反射镜，镜面全反射镜与通孔位置对应设置；第二反射光经镜面全反射镜后反射至CCD。本实用新型能实现对圆弧面物体进行垂直度检测、定位。

技术领域

本实用新型涉及一种垂直度检测系统，特别是关于一种在工业领域中应用的基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统。

背景技术

现阶段对具有圆弧面物体的垂直度检测基本上是凭借工人的经验或者使用图像处理的方式对具有漫反射的圆弧物体进行垂直度检测并对其定点打孔。前者需要工人大量的临床实践经验，对工人经验以及当时身体状况要求较高；而后者由于应用涉及图像处理等一系列昂贵的组成器件(高清CCD摄像头、传导光纤、PC、定位器件等)，成本较高，且操作较为不便。

发明内容

针对上述问题，本实用新型的目的是提供一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统，其能对具有反射特性的圆弧面物体进行垂直度检测、定位，降低生产成本和生产难度，提高操作的便利性。

为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统，其特征在于：该系统包括半导体激光器、半透半反镜、镜面全反射镜、CCD和钻孔器；所述钻孔器采用轴中空的倒T型结构，其端部对应于圆弧物体表面，与端部垂直的延伸部内设置有所述半导体激光器和半透半反镜；位于所述延伸部侧壁设置有一通孔，该通孔的圆心与所述半透半反镜的中心位于同一水平线；所述半导体激光器发射出的激光光束传输至所述半透半反镜后，分为第一透射光和第一反射光；所述第一透射光经透明介质垂直照射在所述圆弧物体表面上后，反射回所述半透半反镜，经所述半透半反镜再次分束成第二透射光和第二反射光；所述第二反射光穿过所述通孔照射在位于所述钻孔器外部的所述镜面全反射镜，所述镜面全反射镜与所述通孔位置对应设置；所述第二反射光经所述镜面全反射镜后反射至所述CCD。

进一步，所述半导体激光器发射出的激光光束与所述钻孔器同轴。

进一步，所述半透半反镜的分光比为50:50。

进一步，所述半透半反镜呈倾斜设置在所述钻孔器的延伸部内，所述半透半反镜与所述半导体激光器发射出的准直激光光束夹角为45°。

本实用新型由于采取以上技术方案，其具有以下优点：1、本实用新型利用非接触式激光对物体表面进行垂直度检测，降低生产成本和生产难度，提高操作的便利性。2、本实用新型通过采用半透半反镜、镜面全反射镜和CCD对圆弧面物体进行垂直度检测，其操作方便，定位准确。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的描述。