[实用新型]存储器测试装置

权利要求书

1.一种存储器测试装置，其特征在于，所述装置包括：

环形振荡电路，配置为从存储器电路接收数据处理开始信号，并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号；以及从所述存储器电路接收数据处理结束信号，并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号；以及

计数电路，配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号，在所述振荡信号持续的时间内，对所述环形振荡电路中的脉冲周期数进行计数，以根据所述脉冲周期数确定所述存储器电路处理数据的时间。

2.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述环形振荡电路包括：

多个串联连接的反相器，其中所述反相器的数量为奇数；以及

逻辑与电路，所述逻辑与电路的一个输入端接收所述数据处理开始信号和所述数据处理结束信号，所述逻辑与电路的输出端连接到多个所述反相器中第一个反相器的输入端，以及多个所述反相器中的最后一个反相器的输出端连接所述逻辑与电路的另一个输入端。

3.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述计数电路包括：

除频电路，配置为接收所述环形振荡电路发送的振荡信号，并将所述振荡信号除频处理；以及

二进制计数器，配置为对所述除频后的振荡信号进行计数。

4.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述数据处理开始信号为用于表示所述存储器电路开始执行数据处理的信号；以及所述数据处理结束信号为用于表示所述存储器电路结束执行数据处理的信号。

5.根据权利要求4所述的存储器测试装置，其特征在于，所述数据处理包括对数据的存储操作或对数据的读取操作。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的存储器测试装置，其特征在于，

所述环形振荡电路生成的振荡信号和所述存储器电路输出的数据处理信号通过一选择器选择输出。