[实用新型]一种芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的下侧壁开设有多个凹口，每个所述凹口内均设有滚轮（2），所述底座（1）的上侧壁设有两组平行设置的支撑装置，每个所述支撑装置均包括两个对称设置的支撑板（3）组成，每两个对称设置的所述支撑板（3）的一侧内壁上均插设有转轴，每两个对称设置的所述转轴之间设有传送辊，两个所述传送辊上共同套设有传送带（7），所述底座（1）的上侧壁还设有双轴步进电机（4），所述双轴步进电机（4）的两个驱动轴上均套设有皮带（6），所述底座（1）的上侧壁还设有三个固定板，每个所述固定板的上端均设有固定块（8），每个所述固定块（8）的一侧侧壁上均开设有安装槽，其中一个所述安装槽内设有芯片检测仪（14），所述芯片检测仪（14）远离安装槽的一侧设有探头（15），另一个所述安装槽内设有电动伸缩杆（12），所述电动伸缩杆（12）的驱动端连接有橡胶块（13），另外一个所述安装槽内设有气缸（9），所述气缸（9）的驱动端连接有推板，所述橡胶块（13）与探头（15）对称设置在传送带（7）的两侧。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，每个所述支撑板（3）与转轴的连接处均开设有安装口，每个所述安装口的内壁上均装设有轴承（5），所述转轴的一端插设在轴承（5）内。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，其中两个对称设置的所述转轴上均套设有皮带轮，两个所述皮带（6）远离双轴步进电机（4）的一端分别套设在其中一个皮带轮上。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述探头（15）上套设有限位块，所述限位块位于传送带（7）的上侧壁。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，其中一个所述固定块（8）的上侧壁开设有放置口，所述放置口内设有89S51单片机（11）。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述89S51单片机（11）通过导线（10）与芯片检测仪（14）和气缸（9）电性连接。