[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括底座，所述底座的下侧壁开设有多个凹口，每个所述凹口内均设有滚轮，所述底座的上侧壁设有两组平行设置的支撑装置，每个所述支撑装置均包括两个对称设置的支撑板组成，每两个对称设置的所述支撑板的一侧内壁上均插设有转轴，每两个对称设置的所述转轴之间设有传送辊，两个所述传送辊上共同套设有传送带，所述底座的上侧壁还设有双轴步进电机，所述双轴步进电机的两个驱动轴上均套设有皮带，所述底座的上侧壁还设有三个固定板。本实用新型实现了对芯片的自动化测试，并实现了优劣分类，通过接触式的检测，避免了传统实插式检测损害芯片的问题，结构简单，方便实用。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着计算机信息科技迅速蓬勃发展，在计算机相关领域的设计与组件也不断日新月异，然而，在日新月异的电子产品中，均会使用不同类型之内存芯片模块，也因此对内存芯片的质量要求也日益严格，除了静态测试外，动态测试也是质量检验的重要一环。动态测试即是在生产在线将计算机主机板的周边组件装设连结后，再将内存芯片模块插设在主机板上，测试内存芯片模块与主机板上各组件的操作是否正常，而由于动态测试是采用实插式测试，造成内存芯片快速磨耗与损伤，使得测试成本相当高。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中的动态测试是采用实插式测试，造成内存芯片快速磨耗与损伤，使得测试成本相当高的问题，而提出的一种芯片测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种芯片测试装置，包括底座，所述底座的下侧壁开设有多个凹口，每个所述凹口内均设有滚轮，所述底座的上侧壁设有两组平行设置的支撑装置，每个所述支撑装置均包括两个对称设置的支撑板组成，每两个对称设置的所述支撑板的一侧内壁上均插设有转轴，每两个对称设置的所述转轴之间设有传送辊，两个所述传送辊上共同套设有传送带，所述底座的上侧壁还设有双轴步进电机，所述双轴步进电机的两个驱动轴上均套设有皮带，所述底座的上侧壁还设有三个固定板，每个所述固定板的上端均设有固定块，每个所述固定块的一侧侧壁上均开设有安装槽，其中一个所述安装槽内设有芯片检测仪，所述芯片检测仪远离安装槽的一侧设有探头，另一个所述安装槽内设有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的驱动端连接有橡胶块，另外一个所述安装槽内设有气缸，所述气缸的驱动端连接有推板，所述橡胶块与探头对称设置在传送带的两侧。

优选地，每个所述支撑板与转轴的连接处均开设有安装口，每个所述安装口的内壁上均装设有轴承，所述转轴的一端插设在轴承内。

优选地，其中两个对称设置的所述转轴上均套设有皮带轮，两个所述皮带远离双轴步进电机的一端分别套设在其中一个皮带轮上。

优选地，所述探头上套设有限位块，所述限位块位于传送带的上侧壁。

优选地，其中一个所述固定块的上侧壁开设有放置口，所述放置口内设有89S51单片机。

优选地，所述89S51单片机通过导线与芯片检测仪和气缸电性连接。

本实用新型中，将待测芯片放在传送带上，调节双轴步进电机的转动角度和频率使传送带将待测芯片递进一定距离至待测芯片位于橡胶块与探头之间后停止，电动伸缩杆启动，推动待测芯片移动至待测芯片的接触端与探头接触，芯片检测仪对待测芯片进行检测，将待测芯片的优劣情况传递至89S51单片机中，如待测芯片为劣质产品时，89S51单片机延时一定时间发出启动信号至气缸，电动伸缩杆收缩，传送带继续带动待测芯片往前位移，气缸启动，将劣质芯片推出，如为优质芯片，电动伸缩杆收缩，进行下一个待测芯片的检测。本实用新型实现了对芯片的自动化测试，并实现了优劣分类，通过接触式的检测，避免了传统实插式检测损害芯片的问题，结构简单，方便实用。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种芯片测试装置主视的结构示意图；