[实用新型]半导体测试编带一体机的测试机构

权利要求书

1.一种半导体测试编带一体机的测试机构，包括,底座(1)、支撑座(2)、限位螺丝(3)、测试座(4)、第一测试片(5)、第二测试片(6)、测试导模(7)，其特征在于，所述底座(1)的上端固定连接支撑座(2)，所述支撑座(2)上端设置有测试座(4)，所述测试座(4)中间设置安装台(401)，所述安装台(401)的上端设置有测试导模(7)，所述测试座(4)的上端固定设置有第一测试片(5)、第二测试片(6)，所述第一测试片(5)上设置有第一测试斜面(501)，所述第二测试片(6)上设置有第二测试斜面(601)，所述测试座(4)和测试导模(7)之间设置导向杆(9)，所述导向杆(9)滑动贯穿测试座(4)相抵限位螺丝(3)一端，所述限位螺丝(3)另一端设置在支撑座(2)上的圆形槽(201)内螺纹连接支撑座(2)。

2.根据权利要求1所述的半导体测试编带一体机的测试机构，其特征在于：所述支撑座(2)为“工”字形状，上端还设置有凹槽(202)。

3.根据权利要求1所述的半导体测试编带一体机的测试机构，其特征在于：所述测试导模(7)的形状为“十”形。

4.根据权利要求1所述的半导体测试编带一体机的测试机构，其特征在于：所述第一测试片(5)和第二测试片(6)为四组，四组第二测试片(6)设置在所述测试导模(7)的四周，且相对于测试导模(7)对称设置。

5.根据权利要求1所述的半导体测试编带一体机的测试机构，其特征在于：所述安装台(401)为黄铜圆柱体。

6.根据权利要求1所述的半导体测试编带一体机的测试机构，其特征在于：所述第一测试斜面(501)和第二测试斜面(601)与竖直方向的夹角均为30°。