[发明专利]用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置

权利要求书

1.一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，包括：

拨动机构（3），该拨动机构（3）包括驱动组件（31）及拨动组件（32），该拨动组件（32）包括与驱动组件（31）传动连接的安装座（321）及安装于安装座（321）上的若干个拨动杆（322）；以及

用于承载待测元器件的载台（4），

其中，每个拨动杆（322）的正下方均设有载台（4），拨动杆（322）与载台（4）上的待测元器件选择性配接，驱动组件（31）可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆（322）与载台（4）上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆（322）在驱动组件（31）的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台（4）上的待测元器件；

载台（4）包括：

基座（41），该基座（41）上设有向上凸起的连接部（411）及用于放置待测元器件的载物台（412）；以及

根部与连接部（411）相铰接的盖板（42），盖板（42）上开设有贯穿其上下表面的让位孔（422），

其中，盖板（42）可绕连接部（411）在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台（412）上的待测元器件选择性地压紧，当盖板（42）将放置于载物台（412）上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔（422）；拨动机构（3）对称地设有两组。

2.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，驱动组件（31）包括：

支座（311）；以及

设于支座（311）上的驱动电机（313）与滑动导轨（312），

其中，滑动导轨（312）上滑动配接有滑动座（314），驱动电机（313）的动力输出端与滑动座（314）相连接，滑动座（314）的旁侧设有用于感应滑动座（314）滑行位置的前位置传感器（317）与后位置传感器（318）。

3.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座（321）沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

4.如权利要求3所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座（321）上嵌设有安装板（328），安装板（328）的延伸方向与安装座（321）的延伸方向相一致。

5.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，载物台（412）上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽（4122），容纳槽（4122）的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针（44），容纳槽（4122）上设有密封组件（45），该密封组件（45）包括：

密封板（451）；以及

设于密封板（451）与载物台（412）之间的顶部密封圈（452），

其中，密封板（451）中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔（454），顶部密封圈（452）环绕地设置于容纳槽（4122）的外周，密封通孔（454）分别与让位孔（422）及容纳槽（4122）相互连通。

6.如权利要求5所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，密封通孔（454）的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈（453），密封板（451）、顶部密封圈（452）及缓冲圈（453）三者全部一体式地结合成统一整体。

7.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，基座（41）的旁侧还设有用于将盖板（42）选择性压紧的压紧组件（43），该压紧组件（43）与盖板（42）的端部相对设置。

8.如权利要求7所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，压紧组件（43）包括：

固定座（431）；

根部与固定座（431）转动连接的转轴（433）；以及

与转轴（433）的顶部相固接的压板（432），

其中，压板（432）呈L字形结构。

9.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，拨动杆（322）的前端向下延伸形成有下延部（3221），下延部（3221）的下表面上开设有拨动槽（3222）。