[发明专利]用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置

说明书

本发明公开了一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，包括：拨动机构，该拨动机构包括驱动组件及拨动组件，该拨动组件包括与驱动组件传动连接的安装座及安装于安装座上的若干个拨动杆；以及用于承载待测元器件的载台，其中，每个拨动杆的正下方均设有载台，拨动杆与载台上的待测元器件选择性配接，驱动组件可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件根据本发明，其能够使得力学性能测试与电学性能测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，提高了测试效率，降低了生产成本。

技术领域

本发明涉及元器件高压水密性功能测试领域，特别涉及一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置。

背景技术

对于一些元器件，往往在生产完成后至出厂前，需要对其进行高压下的水密性功能测试，例如测试一些力学性能及电学性能是否满足设计需求及产品质量要求。

在现有的元器件高压水密性功能测试仪中，大多数仅仅能够测试元器件的水密性功能，由于异形元器件外形结构复杂、形状不唯一，当要进行一些力学性能测试时，往往显得较为局限，正因如此，现有的元器件高压水密性功能测试仪仅能先测试一项性能，当测试完一项性能后，再将元器件转到下个载台中进行另一项性能测试，这就大大增加了测试时间，及反复装载对元器件的损害。

有鉴于此，实有必要开发一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的拨动机构，用以解决上述问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其在提高测试高压水环境状态下异形元器件的电学性能的同时，还能够同时测试该异型元器件在拨动时的力学性能，两项测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，提高了测试效率，降低了生产成本。

为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，包括：

拨动机构，该拨动机构包括驱动组件及拨动组件，该拨动组件包括与驱动组件传动连接的安装座及安装于安装座上的若干个拨动杆；以及

用于承载待测元器件的载台，

其中，每个拨动杆的正下方均设有载台，拨动杆与载台上的待测元器件选择性配接，驱动组件可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件。

优选的是，驱动组件包括：

支座；以及

设于支座上的驱动电机与滑动导轨，

其中，滑动导轨上滑动配接有滑动座，驱动电机的动力输出端与滑动座相连接，滑动座的旁侧设有用于感应滑动座滑行位置的前位置传感器与后位置传感器。

优选的是，安装座沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

优选的是，安装座上嵌设有安装板，安装板的延伸方向与安装座的延伸方向相一致。

优选的是，载台包括：

基座，该基座上设有向上凸起的连接部及用于放置待测元器件的载物台；以及

根部与连接部相铰接的盖板，盖板上开设有贯穿其上下表面的让位孔，

其中，盖板可绕连接部在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台上的待测元器件选择性地压紧，当盖板将放置于载物台上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔。