[发明专利]测量集成电路的内部信号

权利要求书

1.一种电路器件，其包含：

一个或更多个电路块；

多路复用器，其具有多个输入和一个输出；

多个内部信号线，其从所述一个或更多个电路块耦合到所述多路复用器上的所述多个输入；

缓冲器，其具有耦合到所述多路复用器的所述输出的输入和选择性地耦合到所述器件的第一外部引脚的输出；以及

开关，其经配置以将所述多路复用器的所述输出直接选择性地连接到所述器件的所述第一外部引脚，使得所述缓冲器被绕过。

2.根据权利要求1所述的电路器件，其进一步包括：所述器件上的第二外部引脚，所述第二外部引脚耦合到所述多路复用器的所述多个输入中的一个。

3.根据权利要求1所述的电路器件，其中所述缓冲器为单位增益缓冲器。

4.根据权利要求1所述的电路器件，其中一个或更多个附加的缓冲器具有耦合到所述多路复用器的所述输出的输入，并且每个缓冲器具有选择性地耦合到所述第一外部引脚的输出。

5.根据权利要求4所述的电路器件，其中所述缓冲器中的第一缓冲器是PMOS源跟随器，并且其中所述缓冲器中的第二缓冲器是NMOS源跟随器，以及其中所述PMOS源跟随器经配置用于缓冲具有范围从近似阈值到接地参考值的幅度的信号，以及其中所述NMOS源跟随器经配置用于缓冲具有范围从近似阈值到电源参考值的幅度的信号。

6.根据权利要求1所述的电路器件，其中仅连接到所述多路复用器的内部信号耦合到所述第一外部引脚。

7.根据权利要求1所述的电路器件，进一步包括所述器件上的第三外部引脚，其经耦合以控制所述多路复用器和所述开关。

8.一种集成电路即IC，其包含：

功能逻辑，其具有多个内部信号线；以及

测试逻辑，其具有耦合到所述多个内部信号线的多个输入并且具有耦合到所述集成电路的第一外部引脚的一个输出，其中所述测试逻辑包括缓冲器，并且其中所述测试逻辑经配置以将所述多个内部信号线的每个直接选择性地耦合到所述IC的所述第一外部引脚或者经由所述缓冲器选择性地耦合到所述IC的所述第一外部引脚。

9.根据权利要求8所述的集成电路，其进一步包括耦合到所述测试逻辑的输入的第二外部引脚，其中所述测试逻辑经配置以将在所述IC的所述第二外部引脚上接收的信号经由所述缓冲器选择性地耦合到所述IC的所述第一外部引脚。

10.根据权利要求8所述的集成电路，其中所述缓冲器为单位增益缓冲器。

11.根据权利要求8所述的集成电路，其中所述测试逻辑包括一个或更多个附加的缓冲器，每个附加的缓冲器具有连接到所述缓冲器的输入的输入，并且其中所述测试逻辑经配置以将所述多个内部信号线的每个直接选择性地耦合到所述IC的所述第一外部引脚或者经由所述一个或更多个附加的缓冲器选择性地耦合到所述IC的所述第一外部引脚。

12.根据权利要求11所述的集成电路，其中所述缓冲器中的第一缓冲器是PMOS源跟随器，并且其中所述缓冲器中的第二缓冲器是NMOS源跟随器。

13.根据权利要求12所述的集成电路，其中所述PMOS源跟随器经配置用于缓冲具有范围从近似阈值到接地参考值的幅度的信号，以及其中所述NMOS源跟随器经配置用于缓冲具有范围从近似阈值到电源参考值的幅度的信号。

14.根据权利要求8所述的集成电路，进一步包括所述IC上的第三外部引脚，其经耦合以控制所述测试逻辑。