[发明专利]用于检测倒置蛋的设备和方法

权利要求书

1.一种用于识别一批蛋中的每个蛋的取向的设备，所述一批蛋中的每个蛋处于限定所述蛋的第一末端和第二末端的位置，每个蛋具有气室，所述气室可以位于所述第一末端或所述第二末端中的任一者中，当所述气室位于这些末端中的一者时，该末端限定所述蛋的倒置位置，所述设备包括：

加热模块，其包括红外光源，所述红外光源被配置成将该批蛋暴露于红外光并在任何倒置蛋的气室中产生热区，所述红外光源包括发射短波红外光的红外涂层灯，

具有热像仪的成像模块，所述热像仪被配置成捕获该批蛋的热图像；以及

分析器模块，其被配置成从所述热图像中检测任何倒置蛋的所述气室中所述热区的存在，并识别该批蛋中每个蛋的所述取向。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述红外光源包括反射器，所述反射器被配置成限制热量浪费并将所述短波红外光引向该批蛋。

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述暴露时段在1秒和9秒之间，并且所述暴露距离在60 mm和200 mm之间。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述加热模块还包括屏幕，所述屏幕被配置成保护所述红外光源免受来自该批蛋的碎屑的影响。

5.根据权利要求4所述的设备，其中所述屏幕对红外线是透明的。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述屏幕由二氧化硅和石英的混合物制成。

7.根据权利要求1所述的设备，其中所述加热模块还包括冷却系统，所述冷却系统被配置成冷却所述红外光源。

8.根据权利要求7所述的设备，其中所述冷却系统包括风扇，所述风扇被配置成从所述红外光源提取空气并使其远离该批蛋和所述成像模块。

9.一种用于从一批蛋中识别倒置蛋的方法，其包括：

用辐射源加热该批蛋，所述辐射源包括发射短波红外光的红外涂层灯；

经由所述辐射源在任何倒置蛋的气室内产生热区；

停止用所述辐射源对该批蛋的所述加热；

在停止该批蛋的所述加热时，用热像仪捕获该批蛋的热图像；

分析所述热图像以检测所述热区的存在；以及

识别所述倒置蛋。

10.根据权利要求9所述的方法，其中该批蛋的所述加热包括在暴露时段期间、在标称功率下和一暴露距离下发射红外光在该批蛋上。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述暴露时段在1秒和9秒之间，所述标称功率在1000 w和5000 w之间，并且所述暴露距离在60 mm和200 mm之间。

12.根据权利要求11所述的方法，其中执行所述加热区的所述产生，以便不显著加热每个蛋的其余部分。

13.根据权利要求12所述的方法，其中所述加热的所述停止是通过将所述蛋移离所述辐射源来执行。

14.根据权利要求12所述的方法，其中所述加热、所述产生和所述捕获是在用输送机系统移动所述蛋时执行，所述输送机系统被配置成将所述蛋从所述蛋暴露于所述辐射源的位置移动到所述蛋暴露于所述热像仪的另一位置。

15.根据权利要求12所述的方法，其中所述加热、所述产生和所述捕获是在孵化所述蛋之前执行。

16.一种用于识别一批蛋中的每个蛋的取向的设备，所述一批蛋中的每个蛋处于托盘（110）中限定所述蛋的第一末端和第二末端的单独的蛋单元（112）中，所述托盘的单元（112）具有用于暴露蛋的末端的开口（112a，112b），每个蛋具有气室，所述气室可以位于所述第一末端或所述第二末端中的任一者中，当所述气室位于这些末端中的一者时，该末端限定所述蛋的倒置位置，所述设备包括：

加热模块（1100），其包括红外光源，所述红外光源被配置成将该批蛋暴露于红外光并在任何倒置蛋的气室（102）中产生热区，所述红外光源包括发射短波红外光的红外涂层灯，

具有热像仪的成像模块（1200），所述热像仪（1210）被配置成捕获该批蛋（100）的热图像；以及

分析器模块（1300），其被配置成从所述热图像中检测任何倒置蛋的所述气室（102）中所述热区的存在，并识别该批蛋（100）中每个蛋的所述取向。