[发明专利]使用相对的滤光器掩模进行相位检测自动聚焦

权利要求书

1.一种用于相位检测自动聚焦的装置，包括：

多个光电二极管，用于捕获多个波长的光；

透镜，用于将光聚焦到所述多个光电二极管上，其中所述透镜包括电可调滤光器，用于允许近红外NIR光在相位检测自动聚焦期间通过所述电可调滤光器，并在图像捕获期间经由所述电可调滤光器阻挡所述NIR光；

滤色器阵列，包括与所述多个光电二极管相对应的交替的彩色通过滤光器的格栅；以及

掩模，包括多个滤光器以通过阻挡与所述交替的彩色通过滤光器相对应的至少两个光电二极管的相对部分上的光带来分离光带的检测，其中经分离的检测被用于所述相位检测自动聚焦。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述光带包括近红外NIR波段。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述多个滤光器包括近红外NIR截止滤光器，以阻挡NIR波段的光同时允许NIR波段外的光通过。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述彩色通过滤光器包括双通滤光器，以允许彩色波段和近红外波段通过所述彩色通过滤光器。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述掩模经由交替的单色通过滤光器和双带通滤光器被集成到所述滤色器阵列中，其中，所述双带通滤光器使得彩色和近红外波段能够通过。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的装置，其中，所述光带由红外IR灯生成。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的装置，其中，所述交替的彩色通过滤光器的格栅包括4×2图案。

8.根据权利要求1-5中的任一项所述的装置，包括颜色转换矩阵，以减少近红外信号对RGB颜色分量的影响。

9.根据权利要求1-5中任一项所述的装置，包括双光圈，以增加在所述多个光电二极管处接收的光带的量。

10.一种用于调整自动聚焦机构的方法，包括：

在处理器处从传感器接收至少两个分离的光带的检测，其中，所述传感器包括掩模，以通过阻挡至少两个光电二极管的相对部分上的光带来分离所述光带；

经由所述处理器基于所述分离的光带的检测来计算深度图；

经由所述处理器基于所述分离的光带的检测来计算移位量和移位方向；以及

经由所述处理器基于计算出的移位量和移位方向来调整自动聚焦机构。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，计算所述移位量包括：

检测所述至少两个分离的检测之间的相移量；以及

基于检测到的相移量来计算所述移位量。

12.根据权利要求10所述的方法，其中，计算所述移位方向包括：

检测所述至少两个分离的检测的顺序；以及

基于检测到的所述至少两个分离的检测的顺序来计算所述移位方向。

13.根据权利要求10所述的方法，包括：

允许可调滤光器使可见RGB光通过；

在接收所述至少两个分离的检测之前将所述可调滤光器调整为使所述光带和可见RGB光通过；以及

在调整所述自动聚焦机构之后将所述可调滤光器调整为使可见RGB光通过。

14.根据权利要求10所述的方法，包括在所述自动聚焦机构被调整之后捕获图像。

15.根据权利要求10所述的方法，其中，计算所述移位量和所述移位方向包括分析左平面和右平面以确定相位差。

16.根据权利要求10所述的方法，其中，所述掩模包括近红外截止滤光器。