[发明专利]用于钴镀覆的增强镀覆浴及添加剂化学品在审
申请号: | 201780013539.2 | 申请日: | 2017-01-30 |
公开(公告)号: | CN108701647A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 伊斯梅尔·艾密许;罗伊·夏维;克里斯·帕贝里可 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/28 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 镀覆 添加剂系统 添加剂包 化学品 咪唑啉 添加剂化学品 抑制剂化合物 半导体器件 双镶嵌工艺 亚微米特征 高深宽比 金属填充 特征形成 烷基修饰 电镀浴 介层窗 电镀 通孔 咪唑 添加剂 镶嵌 | ||
1.一种在基板上形成钴层的方法,包括下述步骤:
将基板浸泡在钴镀覆浴中,所述基板具有导电层,所述导电层设置在所述基板上,其中所述钴镀覆浴包括:
第一量的钴离子;和
第一量的至少一种抑制剂化合物,所述抑制剂化合物包含咪唑基、咪唑啉基、或咪唑啉啶基,且其中所述咪唑基、咪唑啉基、或咪唑啉啶基包含烷基;和
相对阳极偏压所述导电层,而在所述导电层的表面上形成钴层,所述阳极电连通所述钴镀覆浴与所述导电层。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述烷基是芳香族烷基、脂肪族烷基、氧化的碳基、醚基、乙氧基、丙氧基、乙二醇基、二乙二醇基、丙二醇基、二丙二醇基、一级胺基、二级胺基、三级胺基、硫醚基、巯基,或上述基团的组合。
3.如权利要求2所述的方法,其中所述烷基是寡聚式(oligomeric)或聚合式(polymeric)的烷基。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述烷基是聚乙二醇基。
5.如权利要求4所述的方法,其中所述聚乙二醇基的分子量在约100克/摩尔至约30000克/摩尔之间。
6.如权利要求3所述的方法,其中所述烷基是聚丙二醇。
7.如权利要求1所述的方法,其中所述钴镀覆浴具有在约5至约7之间的pH值。
8.如权利要求1所述的方法,其中所述钴镀覆浴包括氨基磺酸钴(cobalt sulfamate)或含甘氨酸钴配合物的溶液,其中所述钴镀覆浴中的所述钴离子的浓度介于约0.001摩尔/升至0.25摩尔/升之间。
9.如权利要求8所述的方法,其中所述钴镀覆浴包括氨基磺酸钴溶液。
10.一种形成钴电镀浴的方法,包括下述步骤:
将第一量的钴离子源配发至第一容器中;
将第一量的至少一种抑制剂化合物配发至所述第一容器中,其中所述至少一种抑制剂化合物包含咪唑基、咪唑啉基、或咪唑啉啶基,且所述咪唑基、咪唑啉基、或咪唑啉啶基包含烷基醚(alkyl ether)基,及;
将所述钴电镀浴调整至约4至约9之间的pH值。
11.如权利要求10所述的方法,其中所述钴离子源是氨基磺酸钴。
12.如权利要求11所述的方法,其中所述钴电镀浴进一步包括第一量的硼酸。
13.如权利要求10所述的方法,其中所述烷基醚基是聚丙二醇。
14.如权利要求10所述的方法,其中所述烷基醚基是聚乙二醇基。
15.如权利要求14所述之方法,其中所述聚乙二醇基的分子量在约100克/摩尔至约30000克/摩尔之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造