[发明专利]测试座单元

权利要求书

1.一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：

多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；

座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；

浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；

弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及

至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离，

其中所述弹性构件的第一端插入在所述座主体的顶表面上形成的弹性构件容置凹槽中，所述弹性构件的第二端插入在所述浮动板的底表面上形成的所述弹性构件容置凹槽中。

2.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述锁定止挡件包括固持突出部，所述固持突出部较所述锁定啮合部在横向于所述突出方向的方向上延伸更多，

所述锁定构件被支撑于所述浮动板上且沿所述浮动板的表面滑动，且

所述锁定部沿所述浮动板的所述表面被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁。

3.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述支撑锁定销包括在所述突出方向上形成的凹槽且能够在被锁定至所述锁定部以及自所述锁定部解锁的同时在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。

4.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述至少一个锁定构件包括在所述浮动板的两个相对的侧上被排列成面对彼此的一对锁定构件。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试座单元，其中所述锁定构件与所述浮动板彼此啮合以容许所述锁定构件滑动。

6.根据权利要求5所述的测试座单元，其中所述锁定构件与所述浮动板中的任一者是滑槽，且所述锁定构件与所述浮动板中的另一者是被插入于所述滑槽中的引导销。