[发明专利]测试座单元

说明书

本发明揭示一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针；浮动板，被配置成包括销引导孔，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。

技术领域

本发明涉及一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。

背景技术

使用用于测试半导体芯片的测试座来电性连接半导体芯片的端子与用于施加测试信号的测试电路装置的基板上的接触点(垫)。此种测试座包括用于电性连接于半导体芯片的端子与测试电路装置的基板上的接触点之间的内置测试探针。为了稳定地施行所述测试，通过螺栓等紧固方法来将测试座耦合至测试电路装置的基板。

偶尔地，可能会因维护等原因而需要将通过此种紧固方法耦合的测试座自基板分离。然而，松开所紧固的螺栓，将测试座自基板分离并使用紧固螺栓来将一新的或现有的测试座耦合至基板非常不便。

发明内容

技术问题

一或多个示例性实施例提供一种测试座单元，通过所述测试座单元，测试座更容易被锁定至测试电路装置的基板以及自所述测试电路装置的所述基板解锁。

技术解决方案

根据示例性实施例的方案，提供一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。

所述锁定止挡件可包括固持突出部，所述固持突出部较所述锁定啮合部在横向于所述突出方向的方向上延伸更多，所述锁定构件可被支撑于所述浮动板上且沿所述浮动板的表面滑动，且所述锁定部可沿所述浮动板的所述表面被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁。

所述支撑锁定销可包括在所述突出方向上形成的凹槽且能够在被锁定至所述锁定部以及自所述锁定部解锁的同时在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。

所述至少一个锁定构件可包括在所述浮动板的两个相对的侧上被排列成面对彼此的一对锁定构件。

所述锁定构件与所述浮动板可彼此啮合以容许所述锁定构件滑动。

所述锁定构件与所述浮动板中的任一者可包括滑槽，且所述锁定构件与所述浮动板中的另一者可包括被插入于所述滑槽中的引导销。

发明有益效果

根据示例性实施例，所述测试座可容易地被锁定至测试电路装置的基板以及自测试电路装置的基板解锁。

附图说明

图1是根据示例性实施例的测试座单元的立体图。

图2是根据示例性实施例的测试座单元的分解立体图。

图3(a)至图3(c)是用于解释根据示例性实施例的测试座单元的运作的图。

图4是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之前的部分立体图。