[发明专利]用于处理基板的设备、处理系统和方法在审
申请号: | 201780015869.5 | 申请日: | 2017-05-16 |
公开(公告)号: | CN109257933A | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 约翰·M·怀特;岭·灿;拉尔夫·林登贝格 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | C23C14/56 | 分类号: | C23C14/56;C23C14/50;C23C16/458;C23C16/54;H01L21/677 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 真空处理装置 处理基板 支撑结构 处理系统 大气空间 配置 | ||
1.一种用于处理基板的设备(100),包括:
第一真空处理装置(101);
第二真空处理装置(102);和
支撑结构(103),配置在所述第一真空处理装置(101)和所述第二真空处理装置(102)之间的大气空间(108)中。
2.权利要求1所述的设备(100),其中所述支撑结构(103)连接至所述第一真空处理装置(101)的第一壁(104),并连接至所述第二真空处理装置(102)的第二壁(105),其中所述第二壁(105)面向所述第一壁(104)。
3.权利要求1或2所述的设备(100),其中所述第一真空处理装置(101)为第一串联式处理装置,且其中所述第二真空处理装置(102)为第二串联式处理装置。
4.权利要求1至3中任一项所述的设备(100),其中所述第一真空处理装置(101)为第一垂直处理装置,且其中所述第二真空处理装置(102)为第二垂直处理装置。
5.权利要求1至4中任一项所述的设备(100),其中所述支撑结构(103)包括基座架结构(106),所述基座架结构(106)支撑所述第一真空处理装置(101)的第一底壁(104B),并支撑所述第二真空处理装置(102)的第二底壁(105B)。
6.权利要求1至5中任一项所述的设备(100),其中所述支撑结构(103)包括强化架结构(107),所述强化架结构(107)连接至所述第一真空处理装置(101)的第一背壁(104A),并连接至所述第二真空处理装置(102)的第二背壁(105A)。
7.权利要求5和6所述的设备(100),其中所述强化架结构(107)连接至基座架结构(106)。
8.权利要求1至7中任一项所述的设备(100),其中所述第一真空处理装置(101)和所述第二真空处理装置(102)之间的所述大气空间(108)提供保养区,所述保养区用于提供对所述第一真空处理装置(101)的第一背侧的进出和对所述第二真空处理装置(102)的第二背侧的进出。
9.权利要求1至8中任一项所述的设备(100),其中所述支撑结构(103)连接至所述第一真空处理装置(101)的第一真空腔室(110),并连接至所述第二真空处理装置(102)的第二真空腔室(120),其中所述第一真空腔室(110)相对于所述第二真空腔室(120)配置。
10.权利要求9所述的设备(100),其中所述第一真空腔室(110)和所述第二真空腔室(120)选自于由下列选项构成的群组:装载锁定腔室;处理腔室,特别是沉积腔室;移送腔室;和具有用于产生技术真空的真空泵的真空腔室。
11.一种用于处理基板的设备(100),包括:
第一真空处理装置(101);
第二真空处理装置(102);和
支撑结构(103),配置在所述第一真空处理装置(101)和所述第二真空处理装置(102)之间的大气空间(108)中;
其中所述支撑结构(103)包括基座架结构(106),所述基座架结构(106)支撑所述第一真空处理装置(101)的第一真空腔室(110)的第一底壁(104B),并支撑所述第二真空处理装置(102)的第二真空腔室(120)的第二底壁(105B),
其中所述支撑结构(103)包括强化架结构(107),所述强化架结构(107)连接至所述第一真空腔室(110)的第一背壁(104A),并连接至所述第二真空腔室(120)的第二背壁(105A),且
其中所述第一真空腔室(110)相对于所述第二真空腔室(120)配置。
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